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公开(公告)号：CN104079345B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201410109809.8
申请日：2014-03-24
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G01J3/462 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0237 , G01J3/0286 , G01J3/26 , G02B6/29367
Abstract: 提供一种波长监视器以及波长监视方法，提高波长监视器的灵敏度。波长监视器（10）具备入射部（20）、滤光器（30）、检测部（40）。入射部（20）以使来自多个光源（L1～L12）的每一个光源的光在滤光器（30）的内部传播时的光的传播角度等于规定的角度的方式，使来自多个光源（L1～L12）的光入射到滤光器（30）。滤光器（30）针对所入射的光的频率具有周期性的透射特性。检测部（40）接受透射了滤光器（30）的透射光，检测透射光的强度。根据该波长监视器（10），能够减小在滤光器（30）的内部传播的光的传播角度，提高波长监视器的灵敏度。
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公开(公告)号：CN106574866A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580041617.0
申请日：2015-06-22
Applicant: 卡尔蔡司光谱有限公司
CPC classification number: G01J3/0251 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0237 , G01J3/0291 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/50 , G01J2001/0481 , G01N21/27 , G01N21/4738 , G01N21/474 , G01N21/86 , G01N2021/4754 , G01N2021/8618 , G01N2201/065
Abstract: 本发明涉及一种用于在样本(04、21、42、54)的生产过程中检测样本(04、21、42、54、66)的绝对反射光谱的测量装置。测量装置包括：光源，其用于产生测量光；均化器，其用于产生测量光的均匀的空间照度分布；可移动反射器(6、16、39、52、59、62)和接收器(07、22、37、53)，其用于收集从样本(04、21、42、54)和/或反射器(6、16、39、52)反射的测量光。根据本发明，不仅用于参考测量而且用于样本测量的反射器(6、16、39、52、59、62)定位在观察光路中并且配置在样本(04、21、42、54、66)的与光源的同一侧，以便将反射的测量光导入到接收器(07、22、37、53)。
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公开(公告)号：CN102902059B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201210251682.4
申请日：2012-07-19
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J3/44 , G01J3/51 , G02B5/284 , G02B26/001
Abstract: 本发明提供一种波长可变干涉滤波器、滤光器模块以及光分析装置。该波长可变干涉滤波器具备：固定基板；可动基板，与固定基板相对；第一反射膜，形成于固定基板的与可动基板相对的面；第二反射膜，设置于可动基板，并与第一反射膜有间隙地对置；第一电极，设置于固定基板的与可动基板相对的面；第二电极，设置于可动基板，并与第一电极相对；接合部，设置于固定基板和可动基板互相对置的面，接合固定基板与可动基板；以及槽部，设置于固定基板和可动基板彼此相对的面中的至少一个面，其中，形成第一反射膜与第二反射膜之间的间隙的空间与外部经由槽部连通。
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公开(公告)号：CN106461460A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580010174.9
申请日：2015-01-29
Applicant: 唯亚威通讯技术有限公司
CPC classification number: G01J3/0229 , G01J3/0208 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/12 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J2003/1213 , G01J2003/1221 , G01J2003/1234 , G01J2003/2813 , G02B5/285
Abstract: 公开了一种光学滤波器，该光学滤波器包括以彼此相距固定距离地堆叠的两个横向可变带通滤波器，使得上游滤波器起到用于下游滤波器的空间滤波器的作用。这发生是因为由上游滤波器透射的倾斜的光束在碰撞在下游滤波器上时被横向地位移。当在倾斜的光束碰撞到上游滤波器和下游滤波器上的位置处的透射通带不重叠时，横向的位移引起倾斜的光束的抑制。
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公开(公告)号：CN106289529A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610880144.X
申请日：2016-10-10
Applicant: 平顶山学院
CPC classification number: G01J3/433 , G01J3/0208 , G01J3/06 , G01J2003/064
Abstract: 本发明涉及一种基于分区式数字微镜的高光通量光谱仪；该光谱仪中的分区式数字微镜含有两个分别编码调制的微镜阵列区：第一微镜阵列区和第二微镜阵列区；光源射出的光线经过准直透镜后到达分光器件，第一会聚透镜设置在分光器件的出射光路，分区式数字微镜的第一微镜阵列区设置在第一会聚透镜的出射光路，第二会聚透镜设置在第一微镜阵列区开状态时的出射光路，反射镜设置在第一微镜阵列区关状态时的出射光路，分区式数字微镜的第二微镜阵列区设置在反射镜的出射光路，第三会聚透镜设置在第二微镜阵列区开状态时的出射光路，单点探测器同时位于第二会聚透镜和第三会聚透镜的焦点处；本发明不仅具有较高的光通量，而且结构紧凑、生产成本低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103181753B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201310022851.1
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN106030288A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201580010323.1
申请日：2015-03-18
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6456 , G01J3/0208 , G01J3/4406 , G01N27/447 , G01N27/44721 , G01N2021/6417 , G01N2021/6471 , G01N2201/06113
Abstract: 在对未知浓度的试样进行分析时，有时会因动态范围不足而频发需要进行再分析的状况。为此提出了一种荧光分析器的方案：利用像分割元件将一个物体像分割为荧光强度不同的多个像，并对所得的多个像在同一检测面内的不同区域同时进行检测。
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公开(公告)号：CN106017670A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610173910.9
申请日：2016-03-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 金井政史
CPC classification number: G01J3/26 , B41J29/38 , B41J29/393 , G01J3/0208 , H04N1/00002 , G01J3/00 , B41J2/00 , G02B5/28
Abstract: 本发明提供可实施高精度的分光测定处理的分光测定装置以及图像形成装置。打印机具备分光器，所述分光器包括光源、向介质(A)的规定的照射范围照射来自光源的照明光的积分器光学系统、设置有让来自测定对象的光射入的波长可变干涉滤波器的分光器件、以及接收从分光器件射出的光的受光部，积分器光学系统向照射范围照射照明光，所述照射范围包含介质(A)和分光器之间的距离为基准距离时的基准测定范围(R0)，并且比基准测定范围(R0)至少增大介质(A)和分光器之间的距离的允许变动量(H)以上。
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公开(公告)号：CN105980819A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201580007227.1
申请日：2015-02-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/18 , G01J3/1838 , G01J3/24 , G01J3/2803
Abstract: 本发明的分光器(1A)具有分光单元(2A)、(2B)、(2C)。分光单元(2A)具有的光通过部(21A)、反射部(11A)、共通反射部(12)、分光部(40A)和光检测部(22A)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL1)排列。分光单元(2B)具有的光通过部(21B)、反射部(11B)、共通反射部(12)、分光部(40B)和光检测部(22B)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL2)排列。分光单元(2C)具有的光通过部(21C)、反射部(11C)、共通反射部(12)、分光部(40C)和光检测部(22C)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL3)排列。基准线(RL1)与基准线(RL2)、(RL3)交叉。
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公开(公告)号：CN104501960B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201410775107.3
申请日：2014-12-16
Applicant: 杭州彩谱科技有限公司 , 中国计量学院
IPC: G01J3/46
CPC classification number: G01J3/0251 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0262 , G01J3/501 , G01J3/502 , G01J3/513 , G01J3/524
Abstract: 本发明公开了一种基于LED光源的分光测色仪及其实现方法，包括：一积分球、耦合光路和光谱仪，其中，所述积分球的内壁上分布有8个LED组成的复合光源，且积分球球壁设置光源入射孔径，每个LED发出的光从光源入射孔径入射积分球内部，投射在积分球内壁上；耦合光路用于将测量口径处的光线耦合进入入射狭缝，同时去除积分球内壁的杂散光；光线从积分球的观察孔径出射后，经过耦合光路进入光谱仪的入射狭缝，经过分光光路分光后，投射到线阵传感器上，线阵传感器上的不同像元对应了不同波长处的光辐射强度。
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