公开(公告)号：CN106456070A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580027058.8

申请日：2015-06-17

Applicant: 索尼公司

Inventor： 小泽谦

IPC: A61B5/1455 ,  G01J3/02 ,  G01J4/04 ,  G01J3/453 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J1/42 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/14546 ,  A61B5/14551 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/681 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/4531 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/005 ,  G01N21/314 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  A61B5/1455

Abstract: 本发明提供了一种成像装置和成像方法。将来自被摄体的光作为多个光束集提供至具有多个元件的相位差阵列。所述相位差阵列被配置成针对多个光束集中的至少一些光束集内所包括的光提供不同的光路。在成像元件阵列处接收来自所述相位差阵列的光。所述成像元件阵列包括多个成像元件。可以显示基于所述成像元件阵列的输出信号根据高光谱成像数据所获得的信息。

公开(公告)号：CN106225928A

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201610536624.4

申请日：2016-07-08

Applicant: 南京航空航天大学

Inventor： 王潇 ,  司晓云 ,  杨凤 ,  吴曰超 ,  尹建华

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J2004/001

Abstract: 本发明公开了一种矢量光束偏振分布检测装置，包括四分之一波片、线偏振光检偏器、旋转模块、图像采集模块和计算机。还公开了矢量光束偏振分布检测方法，入射平行光束经四分之一波片和线偏振光检偏器，后被图像采集模块探测；通过旋转模块改变四分之一波片快轴方向，图像采集模块曝光记录受四分之一波片快轴方向调制的一系列光束图像；计算机把图像细分成微区域，针对每个微区域可认为其偏振分布均匀，分析其受四分之一波片快轴方向调制的强度曲线，可以获取该微区域的偏振态，对所有微区域做相同的处理，最终获取整个光束的偏振态分布。本发明的装置和方法，结构简单、适用性好、稳定可靠，能够实现任意矢量光束偏振分布快速、自动、准确的检测。

公开(公告)号：CN103968949B

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201310042271.9

申请日：2013-02-04

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 刘军库 ,  李关红 ,  李群庆 ,  范守善

IPC: G01J4/04

CPC classification number: H01L31/0224 ,  G01J4/04 ,  H01L31/09 ,  H01L31/1884 ,  Y02E10/50

Abstract: 本发明提供一种偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻、电源和检测装置通过导线电连接以形成一电流回路。其中，该光敏电阻包括一第一电极层、一光敏材料层以及一第二电极层，所述第一电极层、光敏材料层和第二电极层层叠设置，构成一三明治结构，所述第一电极层和第二电极层分别设置于所述光敏材料层相对的两个表面上，且分别与所述光敏材料层电接触，所述第一电极层包括一第一碳纳米管薄膜结构。

公开(公告)号：CN105486408A

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201510837226.1

申请日：2015-11-26

Applicant: 天津大学

Inventor： 胡浩丰 ,  俞明轩 ,  刘铁根 ,  黄柄菁 ,  江俊峰 ,  刘琨

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了基于彩色CCD的三波长Stokes矢量偏振测量系统及方法，用于同步测量三个波长下Stokes矢量的值，该方法在Stokes偏振测量装置中采用红、绿、蓝对应的三个波长的激光器作为光源，并采用彩色CCD作为光强探测器件；考虑彩色CCD红绿蓝(RGB)三个通道量子转换效率的光谱特性，补偿三个通道量子转换效率光谱重叠引起的串扰，从而通过RGB三个通道下测得的光强值计算三个波长下的真实光强值；同时考虑偏振分析器(PSA)在三个波长下的特征偏振态，并基于此由三个波长下的真实光强值最终计算出三个波长下的Stokes矢量。该方法可仅通过四次光强测量即获得三个波长下的Stokes矢量值，从而大大增加了获取的偏振信息量。该方法对于偏振成像和偏振测量探测具有重要意义。

公开(公告)号：CN105021285A

公开(公告)日：2015-11-04

申请号：CN201510382442.1

申请日：2015-07-02

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 黄丽清 ,  王军 ,  程龙 ,  张宇 ,  蔡亚坤

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种微纳圆偏振光检测器件，在金属薄膜上刻蚀出的阿基米德螺旋狭缝，在阿基米德螺旋狭缝的周围刻蚀出单圈或多圈同心阿基米德螺旋沟槽，并通过调控金属薄膜、阿基米德螺旋狭缝和阿基米德螺旋沟槽的材质、尺寸，显著提升了器件上表面的SPP激发效率，从而使得光转换效率和左、右旋圆偏振光中心点处的光强消光比得到了显著的提高。

公开(公告)号：CN104931142A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510372400.X

申请日：2015-07-01

Applicant: 西安邮电大学

Inventor： 刘继红 ,  梁猛 ,  王春河 ,  田瑞霞 ,  曹雅萍

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种温度补偿晶体型偏振干涉装置。该偏振干涉装置由沿光路依次放置的起偏器（3）、主波片（5）、补偿波片（6）、检偏器（4）和光电探测器（7），以及温度传感器（8）和信号处理模块（9）构成，其工作原理和特征为：输入光（1）通过起偏器（3）后其振动方向与主波片（5）的光轴夹角为45°；然后依次通过主波片（5）及其对应的补偿波片（6），探测器（7）把检偏器（4）输出的干涉信号转换为电信号；信号处理模块（9）根据温度传感器（8）获得的温度信息对该电信号进行软补偿，得到偏振干涉输出（2）。本发明同时使用补偿波片和基于测温的软补偿，提高了晶体型偏振干涉装置的温度稳定性。

公开(公告)号：CN102809431B

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201210249281.5

申请日：2012-07-18

Applicant: 西北工业大学

Inventor： 赵永强 ,  张清勇 ,  杨劲翔

IPC: G01J3/447 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种小型自动滤光片转轮多波段偏振成像系统，其特征在于包括双层滤光片转轮、三个CCD相机、电机系统、激光测距仪和计算机；三个CCD相机的前置设有偏振片，偏振片与被摄场景之间设有双层滤光片转轮，双层滤光片转轮受控于电机系统；三个CCD相机将摄取的图像输出至计算机进行处理，同时激光测距仪将测得的距离信号输出至计算机，计算机根据激光测距仪的信息，对图像几何校正和偏振图像计算得到的偏振多波段后，再发送信号给电机系统控制双层滤光片转轮的转动。通过控制电机转动快速获得图像，且系统还具有图像预处理、存储及通信功能，因此能达到稳定可靠工作、节省人力和财力的目的。

公开(公告)号：CN103968948A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201310042255.X

申请日：2013-02-04

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 刘军库 ,  李关红 ,  李群庆 ,  范守善

IPC: G01J4/04

CPC classification number: H01L31/09 ,  H01L31/022466 ,  H01L31/03926 ,  H01L51/444 ,  Y02E10/50

Abstract: 本发明提供一种偏振光的检测方法，具体包括以下步骤：提供一偏振光检测系统，其包括一光敏电阻、一电源及一检测装置，所述光敏电阻包括一第一电极层和一光敏材料层，所述检测装置包括一电流检测元件及一计算机分析系统；将一待测光照射到所述光敏电阻的表面；利用所述光敏电阻对该待测光进行偏振识别；利用所述电流检测元件检测所述光敏电阻中的电流变化；以及利用所述计算机分析系统分析得到该待测光的偏振信息。

公开(公告)号：CN102928082B

公开(公告)日：2014-07-30

申请号：CN201210439641.8

申请日：2012-11-06

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 房建成 ,  李茹杰 ,  秦杰 ,  万双爱 ,  陈瑶 ,  全伟

IPC: G01J4/04 ,  G01B11/26

Abstract: 一种消除调制幅度和光强波动影响的法拉第检测方法，本发明涉及一种使用法拉第调制器测量光偏振微小转角过程中用于精确消除因调制幅度和入射光光强波动引起的测量误差的方法。该方法采用数字锁相放大器模块对待解调信号中的一次、二次谐波信号进行测量，结合法拉第调制器入射光的光强信号，经解算可将一次谐波信号中与调制幅度和入射光光强有关的参数消除，最终得到不受调制幅度和光强波动影响的光偏振微小转角。本发明可消除法拉第调制器在测量光偏振微小转角过程中因调制幅度和入射光光强不稳定导致的测量误差，显著提高其长时间的检测精度，可用于原子自旋磁强计、原子自旋陀螺仪等仪器对光偏振微小转角的精密测量。

公开(公告)号：CN101881659B

公开(公告)日：2013-07-31

申请号：CN201010209989.9

申请日：2010-06-25

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 肖林 ,  姜开利 ,  张玉莹 ,  范守善

IPC: G01J1/42 ,  G01J4/04 ,  B82B1/00

CPC classification number: G01J5/023

Abstract: 本发明涉及一种电磁波检测装置，其包括至少一个电磁波检测单元，其中，该每个电磁波检测单元包括：一第一碳纳米管结构，该第一碳纳米管结构包括多个沿第一方向排列的碳纳米管；两个第一电极相互间隔且分别与该第一碳纳米管结构电连接；一第二碳纳米管结构，该第二碳纳米管结构包括多个沿第二方向排列的碳纳米管，该第二碳纳米管结构与该第一碳纳米管结构相对且间隔设置，且该第一方向与第二方向垂直；及两个第二电极相互间隔且分别与该第二碳纳米管结构电连接。