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公开(公告)号：KR100943242B1
公开(公告)日：2010-02-18
申请号：KR1020080041648
申请日：2008-05-06
Applicant: (주)미래컴퍼니
Inventor： 이상민
Abstract: 디스플레이 패널 검사 방법 및 그 장치가 개시된다. 디스플레이 패널을 통과한 투과광으로부터 투과 영상을 획득하는 단계, 디스플레이 패널의 적어도 하나의 일면으로부터 반사된 반사광으로부터 반사 영상을 획득하는 단계, 투과 영상의 투과 영상 정보와 반사 영상의 반사 영상 정보의 차이를 이용하여 차이 영상 정보를 생성하는 단계 및 차이 영상 정보로부터 디스플레이 패널의 내부의 이물 정보를 출력하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널 검사 방법은, 복수의 카메라를 효율적으로 이용하여 간단한 영상 정보의 차이로부터 디스플레이 패널의 내부 및 표면의 이물을 서로 구분하여 검출할 수 있다.
디스플레이 패널, 검사, 이물, 투과광, 반사광.-
公开(公告)号：KR1020090115997A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：KR1020080041648
申请日：2008-05-06
Applicant: (주)미래컴퍼니
Inventor： 이상민
CPC classification number: G02F1/1309 , G01N21/88 , G01N21/8806 , G09G3/006
Abstract: PURPOSE: A display panel inspecting method and an apparatus thereof are provided to detect foreign materials inside or on a display panel by using the different between simple images. CONSTITUTION: A transmission image acquiring unit(310) gets a transmission image from the light passing through a display panel. The first and second reflective image acquiring units(320,330) get a reflective image from the light reflected from at least one side of the display panel. A difference image generating unit generates difference image information from the transmission image information and reflective image information. A particle output unit outputs information about foreign materials inside the display panel from the difference image information.
Abstract translation: 目的：提供显示面板检查方法及其装置，以通过使用简单图像之间的不同来检测显示面板内部或外部的异物。 构成：透射图像获取单元从通过显示面板的光中获得透射图像。 第一和第二反射图像获取单元（320,330）从从显示面板的至少一侧反射的光获得反射图像。 差分图像生成单元从发送图像信息和反射图像信息生成差分图像信息。 粒子输出单元从差分图像信息输出显示面板内的异物的信息。
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公开(公告)号：KR1020130084718A
公开(公告)日：2013-07-26
申请号：KR1020120005473
申请日：2012-01-18
Applicant: (주)미래컴퍼니
Abstract: PURPOSE: A three-dimensional surface measurement device capable of using the spectroscope and a method thereof are provided to enable the magnification change to the telecentric lens in the front end of a detector, thereby enabling various resolutions variation and the measurement. CONSTITUTION: A three-dimensional surface measurement device capable of using the spectroscope (236) is comprised of a first light splitter (218), an interference light path changing unit (230), an optical element delivery unit (232) and a detection unit (240). The first light splitter separates the white light from the light source (210) into to the reference light and the measurement light, and irradiates to a reference mirror (222) and a sample (226). The first light splitter interferes in the light which is reflected from the reference mirror and the sample and generates the interference light. The interference light path changing unit changes the path of the interference light which is emitted from the first light splitter. The optical element delivery unit linearly moves the interference light path changing unit. The detection unit consecutively irradiates the section of the interference light which changed the path by the linearly moving interference light path changing unit. The detection unit obtains the spectroscopic image of each section of the interference light. [Reference numerals] (210) Light source; (214) Collimation unit; (232) Optical element delivery unit; (AA) Reference surface
Abstract translation: 目的：提供能够使用分光器的三维表面测量装置及其方法，以便能够对检测器前端中的远心透镜进行放大率变化，从而实现各种分辨率变化和测量。 构成：能够使用分光器（236）的三维表面测量装置由第一分光器（218），干涉光路改变单元（230），光学元件输送单元（232）和检测单元 （240）。 第一光分路器将来自光源（210）的白光分离成参考光和测量光，并照射到参考反射镜（222）和样品（226）。 第一光分路器干涉从参考反射镜和样本反射的光，并产生干涉光。 干涉光路改变单元改变从第一分光器发射的干涉光的路径。 光学元件传送单元直线地移动干涉光路改变单元。 检测单元连续地照射通过线性移动干涉光路改变单元改变路径的干涉光的部分。 检测单元获得干涉光的每个部分的分光图像。 （附图标记）（210）光源; （214）准直装置; （232）光学元件传送单元; （AA）参考面
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