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公开(公告)号：WO2018088827A1
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：PCT/KR2017/012693
申请日：2017-11-09
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명의 일 실시예에 따른 3차원 형상 측정 장치는 측정 대상이 안착되는 측정평면, 측정 대상을 조사하는 제1광원, 측정 대상으로부터 반사된 광을 수광하는 제1렌즈 및 제1렌즈에 수광된 광을 수집하여 이미지 데이터로 변환하는 제1이미지 획득수단을 포함하는 제1이미지 모듈, 측정 대상을 조사하는 제2광원, 측정 대상으로부터 반사된 광을 수광하는 제2렌즈 및 제2렌즈에 수광된 광을 수집하여 이미지 데이터로 변환하는 제2이미지 획득수단을 포함하는 제2이미지 모듈 및 제1이미지 모듈 및 제2이미지 모듈로부터 이미지를 획득하고, 이미지 프로세싱하여 측정 대상을 검출하는 제어부를 포함하며, 제1이미지 모듈 및 제2이미지 모듈은 측정 대상을 기준으로 좌우 대칭으로 배치된다.
Abstract translation:
三维形状测量装置根据本发明的一个实施例中，第一，用于接收所述光从第一光源反射，用于照射测量平面的测量对象，将被测量的测定对象安装 第二通过接收从第二光源反射的光收集由所述透镜和所述第一透镜接收的光线，用于照射第一成像模块的测量对象，包括：第一图像拾取测量对象装置，用于转换所述图像数据 以及第二图像获取单元，其获取由所述第二透镜接收的光并将所述光转换成图像数据;以及第二图像获取单元，其从所述第一图像模块和所述第二图像模块获取图像， 其中第一图像模块和第二图像模块相对于测量对象对称布置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：WO2013039340A2
公开(公告)日：2013-03-21
申请号：PCT/KR2012/007352
申请日：2012-09-13
IPC: G01N21/956 , G01B11/30 , G02F1/13
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309 , G06T2207/30121 , H04N7/18
Abstract: 평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다. 평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계를 포함한다.
Abstract translation: 公开了一种用于检查平板的方法。 用于检查平板的方法包括以下步骤：通过水平移动平板和相机中的至少一个来将相机布置在平板的测量位置; 在测量位置相对于平板测量对象自动聚焦相机; 在对照相机进行聚焦时，基于相机的当前位置垂直移动设定区域内的相机，来获取测量对象的多个图像; 在所获取的图像中选择具有用于测量目标的最高定义的图像; 处理所选图像; 并且确定测量目标是否有缺陷。
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公开(公告)号：WO2018135734A1
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：PCT/KR2017/012695
申请日：2017-11-09
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01B11/24
Abstract: 본 발명의 일 실시예에 따른 3차원 형상 측정 장치는 측정 대상이 안착되는 측정평면, 측정 대상을 조사하는 광원, 광원으로부터 조사된 광을 투영시키는 렌즈 및 상기 측정 대상의 표면으로부터 반사되는 영상을 촬상하는 이미지 획득수단을 포함하는 3차원 형상 측정 장치에 있어서, 상기 렌즈 및 이미지 획득수단에 의해 결상되는 초점 영역은 광이 형상되는 면과 일치하도록 렌즈 및 이미지 획득수단이 배치된다.
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公开(公告)号：KR1020130029682A
公开(公告)日：2013-03-25
申请号：KR1020110093102
申请日：2011-09-15
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01N21/956 , G01B11/30 , G02F1/13
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309 , G06T2207/30121 , H04N7/18
Abstract: PURPOSE: A flat panel inspection method is provided to accurately determine the fault of target measuring objects by using an image having the best visibility among multiple images. CONSTITUTION: A flat panel inspection method is as follows; a step for arranging a camera at a position where a flat panel(10) is measured by horizontally moving at least one of the flat panel and a camera(20); a step for automatically bringing the camera into a focus on a target measuring object of the flat panel; a step for obtaining multiple images of the target measuring object while the camera vertically moves in a set range in a state of bringing the camera into a focus; and a step for determining the fault of the target measuring object by processing an image which has the best visibility among the obtained images. [Reference numerals] (40) Control unit
Abstract translation: 目的：提供一种平板检查方法，通过使用多个图像中具有最佳可见度的图像来准确地确定目标测量对象的故障。 规定：平板检查方法如下： 通过水平移动平板和相机（20）中的至少一个来测量在平板（10）的位置处布置相机的步骤; 自动将相机对准平板的目标测量对象的步骤; 在使相机进行聚焦的状态下，在照相机在设定范围内垂直移动的同时获得目标测量对象的多个图像的步骤; 以及通过处理所获得的图像中具有最佳可见度的图像来确定目标测量对象的故障的步骤。 （附图标记）（40）控制单元
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公开(公告)号：KR101306289B1
公开(公告)日：2013-09-09
申请号：KR1020110093102
申请日：2011-09-15
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01N21/956 , G01B11/30 , G02F1/13
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309 , G06T2207/30121 , H04N7/18
Abstract: 평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다. 평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계를 포함한다.
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