半导体装置的制造方法和半导体装置

    公开(公告)号:CN104867839B

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201410059961.X

    申请日:2014-02-21

    Abstract: 本发明提供半导体装置的制造方法和半导体装置,其降低初始的泄漏电流的增加并提高了可靠性。进行树脂密封来制造半导体装置的半导体装置的制造方法的特征在于,该制造方法具备如下步骤:准备支撑板;将功率元件和控制元件载置于支撑板的主面上;以及将支撑板配置在树脂密封模具内,向模具内注入树脂而形成覆盖功率元件和控制元件的树脂密封体,在形成树脂密封体的步骤中,将多个半导体元件并列配置在支撑板上,在半导体元件数量少的列的一侧配置浇口。

    半导体装置的制造方法和半导体装置

    公开(公告)号:CN104867839A

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201410059961.X

    申请日:2014-02-21

    Abstract: 本发明提供半导体装置的制造方法和半导体装置,其降低初始的泄漏电流的增加并提高了可靠性。进行树脂密封来制造半导体装置的半导体装置的制造方法的特征在于,该制造方法具备如下步骤:准备支撑板;将功率元件和控制元件载置于支撑板的主面上;以及将支撑板配置在树脂密封模具内,向模具内注入树脂而形成覆盖功率元件和控制元件的树脂密封体,在形成树脂密封体的步骤中,将多个半导体元件并列配置在支撑板上,在半导体元件数量少的列的一侧配置浇口。

    半导体装置
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205944084U

    公开(公告)日:2017-02-08

    申请号:CN201620975323.7

    申请日:2016-08-29

    Inventor: 板桥龙也

    CPC classification number: H01L2224/40 H01L2224/48247

    Abstract: 本实用新型提供半导体装置,该半导体装置是通过将分流电阻直接与散热片接合,即使在大电流下使用也能够不受热影响地进行电流检测的高可靠性的半导体装置。本实用新型的半导体装置具有:引线框架,其由多个芯片安装盘和多个引线构成;半导体芯片,其被搭载在芯片安装盘的上表面侧;分流电阻,其由电阻体和多个端子构成;跨接件,其对半导体芯片的电极进行电气上的接线;散热片,其由绝缘层和散热体构成;模塑树脂,其对引线框架的芯片安装盘、半导体芯片、分流电阻、跨接件、引线的一部分以及散热片的一部分进行树脂密封,分流电阻以多个端子跨在芯片安装盘之间的方式配置,分流电阻被接合在芯片安装盘的上表面侧。

    半导体装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203339143U

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201320438399.2

    申请日:2013-07-23

    Inventor: 板桥龙也

    Abstract: 本实用新型提供一种半导体装置,能够通过防止由变形应力导致的绝缘层的裂缝的产生来防止耐压降低。本实用新型的半导体装置具备:半导体元件;芯片垫,半导体元件经由导电性粘接剂载置于所述芯片垫的主面;引线框,其具有芯片垫;和散热板,芯片垫经由绝缘性粘接剂载置于所述散热板的主面,所述半导体装置具备下述结构:以散热板的另一个主面露出的方式利用树脂将半导体元件、芯片垫和散热板封装起来,所述半导体装置的特征在于,在散热板的侧面形成有绝缘性粘接剂的突出部。

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