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公开(公告)号：CN100477344C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN03802760.7
申请日：2003-01-24
Applicant: 东洋炭素株式会社
CPC classification number: H01M4/133 , H01M4/366 , H01M4/587 , H01M10/0525 , H01M2004/021 , Y10T428/2998
Abstract: 锂离子二次电池用负极材料，它是以覆盖石墨粉末作为主原料的负极材料，该覆盖石墨粉末是经碳化收率在20wt%或以下的热塑性树脂碳化物以相对于石墨粉末100重量份的量为10重量份或以下的比率对石墨粉末进行覆盖的，通过水银压入法测定的前述通过热塑性树脂覆盖的石墨粉末的气孔径为0.012μm～40μm的累积气孔量与用前述热塑性树脂覆盖前相比，增加5%或以上，通过IUPAC定义的从解吸等温线观察的BJH法进行同一定义的中间孔量在0.01cc/g或以下，并且此量是用前述热塑性树脂覆盖前的60%或以下，同时用激光散射粒度分布测定仪测定的平均粒径为10～50μm，标准偏差相对于该平均粒径的比(σ/D)在0.02或以下。
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公开(公告)号：CN101512798B
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN200780032446.0
申请日：2007-07-06
Applicant: 东洋炭素株式会社
CPC classification number: H01M4/133 , C01B32/20 , H01M4/1393 , H01M4/583 , H01M10/0525 , H01M2004/021 , H01M2004/027
Abstract: 本发明得到初始充放电时气体产生少、能够快速充放电的锂离子二次电池负极用碳材料，含浸低结晶性碳的锂离子二次电池负极用碳材料，负极电极板以及锂离子二次电池。其是由在碳质骨材中配合、混捏粘合剂而成的组合物得到加压成形体并进行碳化，将对其进行石墨化处理所得的人造石墨块粉碎、进行粒度调整而得到的锂离子二次电池负极用碳材料，显示如下特性，即，在使用波长532nm的Nd:YAG激光的拉曼光谱中，以D带与G带之比定义的R值＝(I1360/I1580)≥0.2；在采用学振法算出的结晶学参数中d(002)≥0.336nm、且Lc(002)≤50nm。该碳材料用于锂离子二次电池的负极板或使用了该负极板的锂离子二次电池。
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公开(公告)号：CN101512798A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200780032446.0
申请日：2007-07-06
Applicant: 东洋炭素株式会社
CPC classification number: H01M4/133 , C01B32/20 , H01M4/1393 , H01M4/583 , H01M10/0525 , H01M2004/021 , H01M2004/027
Abstract: 本发明得到初始充放电时气体产生少、能够快速充放电的锂离子二次电池负极用碳材料，含浸低结晶性碳的锂离子二次电池负极用碳材料，负极电极板以及锂离子二次电池。其是由在碳质骨材中配合、混捏粘合剂而成的组合物得到加压成形体并进行碳化，将对其进行石墨化处理所得的人造石墨块粉碎、进行粒度调整而得到的锂离子二次电池负极用碳材料，显示如下特性，即，在使用波长532nm的Nd:YAG激光的拉曼光谱中，以D带与G带之比定义的R值＝(I1360/I1580)≥0.2；在采用学振法算出的结晶学参数中d(002)≥0.336nm、且Lc(002)≤50nm。该碳材料用于锂离子二次电池的负极板或使用了该负极板的锂离子二次电池。
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公开(公告)号：CN1623242A
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN03802760.7
申请日：2003-01-24
Applicant: 东洋炭素株式会社
CPC classification number: H01M4/133 , H01M4/366 , H01M4/587 , H01M10/0525 , H01M2004/021 , Y10T428/2998
Abstract: 锂离子二次电池用负极材料，它是以覆盖石墨粉末作为主原料的负极材料，该覆盖石墨粉末是经碳化收率在20wt％或以下的热塑性树脂碳化物以相对于石墨粉末100重量份的量为10重量份或以下的比率对石墨粉末进行覆盖的，通过水银压入法测定的前述通过热塑性树脂覆盖的石墨粉末的气孔径为0.012μm～40μm的累积气孔量与用前述热塑性树脂覆盖前相比，增加5％或以上，通过IUPAC定义的从解吸等温线观察的BJH法进行同一定义的中间孔量在0.01cc/g或以下，并且此量是用前述热塑性树脂覆盖前的60％或以下，同时用激光散射粒度分布测定仪测定的平均粒子径为10～50μm，标准偏差相对于该平均粒子径的比(σ/D)在0.02或以下。
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