光学式内面測定装置
    2.
    发明专利
    光学式内面測定装置 有权
    光学型内表面测量装置

    公开(公告)号:JP2015232539A

    公开(公告)日:2015-12-24

    申请号:JP2014243143

    申请日:2014-12-01

    Abstract: 【課題】 被測定物の内周面または深穴内径に、プローブを進入させ内面で反射させた光線を立体的に取り込んで観察、及び精度を測定するための光学式内面測定装置において、より高精度な測定を可能にする。 【解決手段】 チューブに内蔵された光ファイバーと、この光ファイバーの先端側に配置された光路変換手段と、 この光路変換手段を回転駆動させるモータとを備える構造において、モータの回転軸部の振れ量を測定する手段を有する。 被検査物からの反射光をコンピュータで計算して得た被検査物の内周面の形状データを、変位測定手段の変位量データで補正することで、モータの回転軸の振れや回転振動が与える測定誤差を解消し、高精度な測定が行える。 【選択図】 図12

    Abstract translation: 要解决的问题:通过将探头插入测量对象的内周表面或深孔内径并三维地吸收光,以高精度地进行用于进行观察和测量精度的光学式内表面测量装置中的测量 由内表面反射的光束。解决方案:光学式内表面测量装置包括:包含在管中的光纤; 光路转换装置,设置在光纤的远侧; 用于旋转地驱动光路转换装置的电动机; 以及用于测量电动机的旋转轴的跳动量的装置。 通过用计算机计算来自被检查物体的反射光而得到的被检查物体的内周面上的形状数据,通过位移测量单元的位移数据进行修正,以消除由于偏移量的旋转轴的偏移和旋转振动引起的测量误差 电机,从而执行高精度的测量。

    パルス幅変調回路
    3.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020108007A

    公开(公告)日:2020-07-09

    申请号:JP2018245074

    申请日:2018-12-27

    Abstract: 【課題】高分解能のパルス幅変調回路を提供する。 【解決手段】CLK信号に同期して動作するカウンタ11のCNT値とVcont1値が等しい場合の中間状態ST2を含むCNT値とVcont1値との大小関係に基づいた3つの状態ST1、ST2、ST3を取り得る判定信号を出力する比較判定回路12と、Vcont2=0で、判定信号の状態ST1から中間状態ST2への変化タイミングにてレベルが変化し、Vcont2=1で、判定信号の中間状態ST2から状態ST3への変化タイミングにてレベルが変化する第1パルス信号(1)を生成する第1信号生成回路13と、判定信号の状態ST1から中間状態ST2への変化タイミングにてレベルが変化する第2パルス信号(2)を生成する第2信号生成回路14と、第1及び第2パルス信号(1)(2)の信号レベルをCLK信号のレベルに応じて交互に選択して出力パルス信号を生成する選択回路15と、を有する。 【選択図】図1

    三相ブラシレスDCモータの制御方法及び該制御方法を用いたモータ制御装置

    公开(公告)号:JPWO2016194919A1

    公开(公告)日:2018-03-22

    申请号:JP2017521957

    申请日:2016-06-01

    CPC classification number: H02P6/20

    Abstract: 【課題】 2つのホール素子により駆動される三相ブラシレスDCモータについて、転流制御及び回転位置制御を高精度に行う。【解決手段】マグネットのN極とS極を周方向へ交互に配置したロータ11と、該ロータ11の周囲に配設された三相コイル12と、該ロータ11の周囲に周方向に間隔を置いて配置された二つの磁気検出部Hc,Hsとを備えた三相ブラシレスDCモータの制御方法において、三相コイル12のうちの二相のみに、一方をN極に他方をS極にするように駆動電力を通電することで、ロータ11を静止させ、この静止状態で二つの磁気検出部Hc,Hsの出力をそれぞれ測定する測定工程を行い、この測定工程による測定値を回転位置の基準に用いて制御するようにした。【選択図】図1

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