半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109727940A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201811239550.3

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 本发明公开半导体装置。半导体装置具备:半导体元件,具有信号焊盘;密封体,密封半导体元件;以及引线,连接于信号焊盘。引线从位于密封体的外部的第1端延伸至位于密封体的内部的第2端,在密封体的内部经由键合线连接于信号焊盘。从引线的第1端延伸至第2端的上表面具有:接合区间,接合键合线;以及粗糙面区间,位于密封体的内部,并且上述粗糙面区间的表面粗糙度比接合区间大。而且,粗糙面区间的至少一部分位于比接合区间靠下方的位置。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109727940B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN201811239550.3

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 本发明公开半导体装置。半导体装置具备:半导体元件,具有信号焊盘;密封体,密封半导体元件;以及引线,连接于信号焊盘。引线从位于密封体的外部的第1端延伸至位于密封体的内部的第2端,在密封体的内部经由键合线连接于信号焊盘。从引线的第1端延伸至第2端的上表面具有:接合区间,接合键合线;以及粗糙面区间,位于密封体的内部,并且上述粗糙面区间的表面粗糙度比接合区间大。而且,粗糙面区间的至少一部分位于比接合区间靠下方的位置。

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