公开(公告)号：CN106104231A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201480077334.7

申请日：2014-08-20

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： S.维翼诺特

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/42 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J1/044 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4252

Abstract: 一种用于测量电子部件（3）的光特性的测试装置（1），所述测试装置（1）包括，在一端处的入口（5），电子部件（3）能够呈于所述入口处以便测试；位于入口处的开闭器（7），其中，所述开闭器（7）配置为能够在第一打开位置与第二关闭位置之间运动，在所述第一打开位置中，待测试的电子部件（3）能够被接收在所述入口（5）中，且在所述第二关闭位置中，所述开闭器（7）能够覆盖所述电子部件（3）支撑于其上的座（9）的至少大部分，使得所述开闭器能够防止由所述座（9）的至少大部分使由所述电子部件（3）发射的光转向离开所述测试装置（1），其中，所述开闭器（7）包括至少一个滑动门(15a、15b)，能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器运动至其第一打开位置，并且能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器（7）运动至其第二关闭位置，并且其中，所述至少一个滑动门（15a、15b）包括切口部分（17），当所述开闭器（7）处于其第二关闭位置中时，所述切口部分（17）限定所述开口（11）。还提供了包括所述测试装置（1）的组件。