电路布置的测试和校准
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111108398A

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201880061783.0

    申请日:2018-09-27

    Inventor: A·尼迈耶

    Abstract: 本发明涉及一种用于测试和/或校准的方法和电路布置,所述电路布置包括传感器电极以及与之耦合的第一和第二电路单元,所述第二电路单元包括电容器,并且所述传感器电极借助于所述电容器和所述传感器电极的耦合来保持在特定的目标电势处,使得所述电势的匹配成为可能,并且所述第二电路单元被配置为使得如果所述电容器的电势在参考范围之外,则所述单元检测到此事件并将所述电容器调至参考电势,并且出于测试和/或校准的目的,参考电流源将可调参考电流注入所述传感器电极中、测量注入另一电路单元中的参考电流、和/或将参考电流注入所述传感器电极的不同部分中。

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