公开(公告)号：CN108367289B

公开(公告)日：2022-01-18

申请号：CN201680070132.9

申请日：2016-12-02

Applicant: 勃林格殷格翰维特梅迪卡有限公司

Inventor： A·尼迈耶 ,  H-U·索尔德 ,  M·格里斯纳

IPC: B01L3/00 ,  B81C1/00 ,  B81B7/04

Abstract: 本发明涉及用于在芯片上产生多个测量区域的方法以及涉及具有通过该方法能得到的多个测量区域的芯片。

公开(公告)号：CN108367289A

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：CN201680070132.9

申请日：2016-12-02

Applicant: 勃林格殷格翰维特梅迪卡有限公司

Inventor： A·尼迈耶 ,  H-U·索尔德 ,  M·格里斯纳

IPC: B01L3/00 ,  B81C1/00 ,  B81B7/04

CPC classification number: B05D3/06 ,  B01L3/5085 ,  B01L3/5088 ,  B01L2200/12 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0893 ,  B01L2300/161 ,  B05D1/005 ,  B05D1/28 ,  B81B7/04 ,  B81C1/00214 ,  G01N33/54386

Abstract: 本发明涉及用于在芯片上产生多个测量区域的方法以及涉及具有通过该方法能得到的多个测量区域的芯片。