公开(公告)号：CN120075105A

公开(公告)日：2025-05-30

申请号：CN202311609998.0

申请日：2023-11-29

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杨超 ,  张金凤 ,  王国力 ,  马成英 ,  张宇亮 ,  李文周 ,  刘月晖 ,  金荣康 ,  宋秋红

IPC: H04L43/50 ,  H04L69/22

Abstract: 本发明涉及一种以太网PHY芯片的功能测试方法，属于以太网收发器测试技术领域，解决了现有以太网PHY芯片的测试方法的测试PATTERN的编写难度较大的问题。该方法包括：ATE测试台根据功能测试顺序依次执行各项以太网协议的功能测试；采用如下方式执行每一项以太网协议的功能测试：ATE测试台发出测试数据和测试指令；FPGA基于测试指令控制测试数据在待测PHY芯片和对测PHY芯片之间通信，配合ATE测试台完成待测PHY芯片的相应以太网协议的功能测试；若相应以太网协议的功能测试通过，则跳转到执行下一项以太网协议的功能测试，直至完成所有以太网协议的功能测试，待测以太网PHY芯片的功能测试通过。

公开(公告)号：CN120075106A

公开(公告)日：2025-05-30

申请号：CN202311610000.9

申请日：2023-11-29

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杨超 ,  张金凤 ,  王国力 ,  马成英 ,  张宇亮 ,  李文周 ,  刘月晖 ,  金荣康 ,  宋秋红

IPC: H04L43/50 ,  H04L69/22

Abstract: 本发明涉及一种以太网PHY芯片的测试方法，属于以太网收发器测试技术领域，解决了现有以太网PHY芯片的测试方法的测试PATTERN的编写难度较大的问题。一种以太网PHY芯片的测试方法，包括以下步骤：ATE测试台控制待测PHY芯片的管脚与ATE测试台相连，向待测PHY芯片发出参数测试的测试数据，对待测PHY芯片进行参数测试；ATE测试台控制待测PHY芯片的管脚与FPGA相连，向FPGA发出以太网协议的功能测试的测试数据，FPGA控制测试数据在待测PHY芯片和对测PHY芯片之间通信，对待测PHY芯片进行以太网协议的功能测试。