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公开(公告)号：CN118137252A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211544689.5
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: H01R43/048 , H01R4/18 , G01L5/00 , G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种基于陶瓷天线体与射频电缆的互联压接装置，将待互联的射频电缆线芯与陶瓷天线体馈电孔中心位置对正后，将楔形金属卡座的小头向下安装于射频电缆线芯与陶瓷天线体馈电孔中间，压力测量单元和红外测量单元安装在压力施加单元上，压力施加单元给楔形金属卡座的大头施加压力，压力测量单元测量所述施加压力的大小并传送给压力施加单元，红外测量单元测量楔形金属卡座与陶瓷天线体之间距离并传送给压力施加单元，压力施加单元根据获得的压力值和距离值判断是否满足压接完成的条件，若满足则停止施压，压接完成。本发明通过机械应力作用实现陶瓷天线体与射频电缆的非焊接自动化精密控制电气互联。
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公开(公告)号：CN114381709A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011134111.3
申请日：2020-10-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出涂层、用途及制备方法，包括催化剂中间层和碳基涂层，催化剂中间层为岛状结构，碳基涂层沉积在岛状结构的催化剂中间层上。本发明制备特殊的催化剂中间层，将等离子体增强化学气相沉积制备的碳纳米结构引入到黑体涂层中，使得涂层具有高吸光性能、高发射率，且与基底材料结合力好，提高稳定性和耐久性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114381147A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011134103.9
申请日：2020-10-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种涂层、用途及其制备方法，包括二氧化硅层和附着在二氧化硅层上的金属纳米层。本发明通过制备具有高粗糙度的二氧化硅中间涂层，将金属纳米涂层引入到黑体涂层中，使金属纳米涂层具有了高粗糙度，使得涂层具有高吸光性能、高发射率，满足黑体涂层的要求。
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公开(公告)号：CN114252239A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011023204.9
申请日：2020-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置，包括复合光源、靶标、准直光学系统，复合光源采用积分球构型，用于输出宽光谱范围的复合光束；靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处，靶标中心开设圆孔，且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上；准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量，解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题，特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。
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公开(公告)号：CN114577065A
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202011388585.0
申请日：2020-12-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种用于红外场景模拟的激励源、模拟装置及模拟方法。所述激励源包括：激光器、准直单元、数字微镜阵列以及成像单元；其中，所述激光器用于输出激光并提供至所述准直单元；所述准直单元用于接收所述激光并输出平行光；所述数字微镜阵列用于接收所述平行光后生成相应的图像并将所述图像反射至所述成像单元中；所述成像单元用于将所述图像投影至微辐射阵列上以使微辐射阵列根据所述图像产生相应的红外场景。通过本发明公开的用于红外场景模拟的激励源，使用激光光源作为微辐射阵列的激励源可以有效提升激励能量，使得有足够强的光能用于红外动态场景模拟，提高后续红外仿真测试信噪比，可以有效减少仿真误差，提升仿真精度并提升均匀性。
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公开(公告)号：CN116626572A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202210133965.2
申请日：2022-02-14
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种火工品测试仪便携式校准装置及方法，属于计量测试技术领域，实现了对火工品测试仪多参数、高精度测量校准，解决了现有技术中缺少电阻输出范围宽、精度高、多参数测量一体的便携式火工品测试仪校准装置的问题。所述校准装置包括：控制模块、IO模块、电压电流测量模块和可变电阻模块；所述控制模块，用于控制所述IO模块各引脚的输出状态，以及控制切换所述电压电流测量模块的工作模式；所述可变电阻模块，实现不同阻值的电阻的输出；通过电阻微调阵列实现输出电阻的微调；所述IO模块，用于控制继电器的开合状态；所述电压电流测量模块，用于测量可变电阻模块的输出电阻值，或测量外部测试仪的输出电压和电流。
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公开(公告)号：CN114252239B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202011023204.9
申请日：2020-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置，包括复合光源、靶标、准直光学系统，复合光源采用积分球构型，用于输出宽光谱范围的复合光束；靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处，靶标中心开设圆孔，且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上；准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量，解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题，特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。
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