一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法

    公开(公告)号:CN109974526B

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN201910355987.1

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法,涉及深空探测技术领域;包括如下步骤:步骤一、将防护盾折叠后放入登月舱中的航天员睡眠舱中;步骤二、当航天员出舱在月球表面执行任务时,将防护盾从睡眠舱取下随身携带;步骤三、当航天员接收到地面站传来的辐射预警后;并根据辐射预警内容,判断是否打开防护盾对自身进行遮蔽防辐射处理;同时判断是否继续执行任务;步骤四、航天员实现自身辐射防护的同时,完成任务;本发明实现了航天员在月面出舱活动时进行便捷有效的应急防护,同时也可兼顾任务期内其他时段的辐射防护。

    一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法

    公开(公告)号:CN109974526A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201910355987.1

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法,涉及深空探测技术领域;包括如下步骤:步骤一、将防护盾折叠后放入登月舱中的航天员睡眠舱中;步骤二、当航天员出舱在月球表面执行任务时,将防护盾从睡眠舱取下随身携带;步骤三、当航天员接收到地面站传来的辐射预警后;并根据辐射预警内容,判断是否打开防护盾对自身进行遮蔽防辐射处理;同时判断是否继续执行任务;步骤四、航天员实现自身辐射防护的同时,完成任务;本发明实现了航天员在月面出舱活动时进行便捷有效的应急防护,同时也可兼顾任务期内其他时段的辐射防护。

    一种重离子加速器单粒子试验降能片厚度快速确定方法

    公开(公告)号:CN104764421A

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201510146078.9

    申请日:2015-03-30

    CPC classification number: G06F19/00

    Abstract: 本发明涉及一种重离子加速器单粒子试验降能片厚度快速确定方法,步骤如下:根据加速器重离子类型和初始能量,确定重离子在硅中的初始射程;根据加速器重离子类型和要求的重离子LET值,确定对应的重离子在硅中的射程;根据重离子初始射程和与要求重离子LET值对应的重离子在硅中的射程,确定当降能片材料为硅时,屏蔽材料的厚度;确定硅材料厚度与降能片厚度的厚度转换系数;将硅材料的厚度转化为降能片的厚度。本发明快速确定降能片的厚度,节省了成本,提高了效率。

    月背采样机构避让自主控制实施方法、计算机程序产品

    公开(公告)号:CN119568439A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411642048.2

    申请日:2024-11-18

    Abstract: 本申请公开了一种月背采样机构避让自主控制实施方法、计算机程序产品,涉及空间探测的技术领域,包括:分析采样机构避让前的分支工作状态,根据采样机构的分支工作状态确定多个采样机构运动的中途点,并在多个采样机构运动的中途点中确定阻碍上升器起飞的中途点;根据确定的中途点,生成采样机构的避让轨迹;根据避让轨迹,将采样机构的执行动作分解为一系列执行步骤,对每一个执行步骤添加监视遥测并确定开始时间,形成自主控制序列;对自主控制序列进行校核和验证,直到自主控制序列符合要求。克服了现有月背采样返回探测器采样机构避让过程中,对中继通信弧段、中继通信质量等的依赖可能带来的地面操控连续性问题。

    一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法

    公开(公告)号:CN105869679B

    公开(公告)日:2018-09-18

    申请号:CN201610183678.7

    申请日:2016-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法,步骤如下:(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N;(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入,运行FPGA,记录FPGA输出是否出现错误;(3)重复第(2)k次,直到失效率在30%到70%;(4)根据实际条件,按照最终选定的N,进行尽量多次的故障注入,获得较好的统计性,推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次;(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN,然后用1‑(1‑λN)M/N估计电路的失效率上限,得到电路设计的SEU数目M‑电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入,即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价,大大减少了实验的次数和评估的周期。

    一种重离子加速器单粒子试验降能片厚度快速确定方法

    公开(公告)号:CN104764421B

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201510146078.9

    申请日:2015-03-30

    Abstract: 本发明涉及一种重离子加速器单粒子试验降能片厚度快速确定方法,步骤如下:根据加速器重离子类型和初始能量,确定重离子在硅中的初始射程;根据加速器重离子类型和要求的重离子LET值,确定对应的重离子在硅中的射程;根据重离子初始射程和与要求重离子LET值对应的重离子在硅中的射程,确定当降能片材料为硅时,屏蔽材料的厚度;确定硅材料厚度与降能片厚度的厚度转换系数;将硅材料的厚度转化为降能片的厚度。本发明快速确定降能片的厚度,节省了成本,提高了效率。

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