使用分配系数增强储层流体分析

    公开(公告)号:CN105247364B

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201380076198.5

    申请日:2013-06-20

    CPC classification number: G01N33/2823 G01N21/31

    Abstract: 本发明提供用于基于在井筒中循环的流体的地面测量来分析储层流体的方法和系统。使具有已知属性的流体{例如,钻井流体)在井筒内循环,在井筒中所述流体暴露于储层流体。气体提取器用以分析所述循环流体的气相的样品以确定所述气相的组成。分配系数用以计算所述循环流体的固相、水相、有机相和气相的组成。将所述流体在循环通过所述井筒之前与之后的组成进行比较以确定所述储层流体的组成。

    具有增强的IR发射的井下源

    公开(公告)号:CN102884604A

    公开(公告)日:2013-01-16

    申请号:CN201080065565.8

    申请日:2010-06-16

    Abstract: 本发明提供具有增强的低频(例如,近红外)发射的光源。一些公开的实施例包括灯丝和至少一个再辐射器元件。灯丝将再辐射器元件加热到稳态温度,该稳态温度是灯丝绝对温度的至少四分之一。如在此公开的,由再辐射器元件提供的增加的表面积提供了来自光源的增强的IR辐射。表面的图案化或纹理化可以进一步增加再辐射器元件的表面积。阐释诸如盘、环、管等的各种形状并可以将其组合以便定制光源的谱发射分布。一些具体的实施例将灯泡上的涂层作为再辐射器元件。涂层可以被设置成遮挡来自灯丝的光或增强来自灯丝的光,这取决于具体的应用。各种再辐射器元件可设置在灯泡内或在灯泡外。

    光学元件装置和其制造方法

    公开(公告)号:CN105103017B

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201380075189.4

    申请日:2013-04-24

    Abstract: 本文描述一种光学元件装置和其制造方法。实例光学装置可包括光学元件(100)。所述光学元件(100)可具有光学路径材料(105),以允许光穿过其中。所述光学路径材料(105)可具有:第一端部(110),其具有第一端表面(112);第二端部(110),其具有第二端表面(112);以及中部(115),其在所述第一端部(110)与所述第二端部(110)之间且具有内部(116)和外表面(117)。涂层(120)可沿着所述外表面(117)安置且扩散到所述光学路径材料(105)中。所述涂层(120)可最小化所述光从所述内部(116)通过所述外表面(117)的泄漏。

    光谱纳米传感器测井系统和方法

    公开(公告)号:CN102906370A

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN201180025452.X

    申请日:2011-06-01

    CPC classification number: E21B47/102 B82Y30/00 E21B49/00 G01N21/658 G01V5/00

    Abstract: 使用纳米传感器来得到井下光谱测量值的测井系统和方法。可以把纳米传感器分散在进行流通、扩散或注入在井眼中的井眼流体(包括水泥泥浆)中。因为纳米传感器具有数量级为10nm到1000nm的直径,所以它们容易穿透到它们的载液可以到达的裂缝、孔和其它孔隙中。纳米传感器传送光源和记录介质以测量这些否则无法接近的区域中的光谱。然后恢复和分析纳米传感器以重建测量到的光谱,并且确定相关的材料特性。此外,光谱测量值可以显示地层和流体中某些元素和分子的存在,科学家从这些信息来确定地层流体和地层本身的组成和相。还可以使用某些触发标准来使纳米传感器测量值与特定位置、路径和/或事件相关联。

    使用分配系数增强储层流体分析

    公开(公告)号:CN105247364A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201380076198.5

    申请日:2013-06-20

    CPC classification number: G01N33/2823 G01N21/31

    Abstract: 本发明提供用于基于在井筒中循环的流体的地面测量来分析储层流体的方法和系统。使具有已知属性的流体{例如,钻井流体)在井筒内循环,在井筒中所述流体暴露于储层流体。气体提取器用以分析所述循环流体的气相的样品以确定所述气相的组成。分配系数用以计算所述循环流体的固相、水相、有机相和气相的组成。将所述流体在循环通过所述井筒之前与之后的组成进行比较以确定所述储层流体的组成。

    具有增强的IR发射的井下源

    公开(公告)号:CN102884604B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201080065565.8

    申请日:2010-06-16

    Abstract: 提供具有增强的低频(例如,近红外)发射的光源。一些公开的实施例包括灯丝和至少一个再辐射器元件。灯丝将再辐射器元件加热到稳态温度,该稳态温度是灯丝绝对温度的至少四分之一。如在此公开的,由再辐射器元件提供的增加的表面积提供了来自光源的增强的IR辐射。表面的图案化或纹理化可以进一步增加再辐射器元件的表面积。阐释诸如盘、环、管等的各种形状并可以将其组合以便定制光源的谱发射分布。一些具体的实施例将灯泡上的涂层作为再辐射器元件。涂层可以被设置成遮挡来自灯丝的光或增强来自灯丝的光,这取决于具体的应用。各种再辐射器元件可设置在灯泡内或在灯泡外。

    光谱纳米传感器测井系统和方法

    公开(公告)号:CN102906370B

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201180025452.X

    申请日:2011-06-01

    CPC classification number: E21B47/102 B82Y30/00 E21B49/00 G01N21/658 G01V5/00

    Abstract: 使用纳米传感器来得到井下光谱测量值的测井系统和方法。可以把纳米传感器分散在进行流通、扩散或注入在井眼中的井眼流体(包括水泥泥浆)中。因为纳米传感器具有数量级为10nm到1000nm的直径,所以它们容易穿透到它们的载液可以到达的裂缝、孔和其它孔隙中。纳米传感器传送光源和记录介质以测量这些否则无法接近的区域中的光谱。然后恢复和分析纳米传感器以重建测量到的光谱,并且确定相关的材料特性。此外,光谱测量值可以显示地层和流体中某些元素和分子的存在,科学家从这些信息来确定地层流体和地层本身的组成和相。还可以使用某些触发标准来使纳米传感器测量值与特定位置、路径和/或事件相关联。

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