公开(公告)号：CN1604062A

公开(公告)日：2005-04-06

申请号：CN200410083155.2

申请日：2004-09-29

Applicant: 因芬尼昂技术股份公司

Inventor： E·塔尔曼恩

IPC: G06F13/38

CPC classification number: G06F11/2007 ,  G06F11/2005

Abstract: 本发明提供一电路装置，其具有：一电路核心模块(100)；一用于对所述电路核心模块(100)进行驱动和寻址的控制处理单元；及一用于在所述电路核心模块(100)与至少一外部电路模块(110)之间传递数据的数据传输单元(103a)；配备至少一另外的数据传输单元(103b－103n)，其对于所述数据处理单元(103a)而言呈冗余设计。一数据流借助于一第一转换单元(201)在电路核心模块(100)与多重冗余设计的数据传输单元(103a－103n)之间转换，并且一数据流借助于一第二转换单元(202)在多重冗余设计的数据传输单元(103a－103n)与至少一外部电路模块(110)之间转换。

公开(公告)号：CN1604235A

公开(公告)日：2005-04-06

申请号：CN200410085137.8

申请日：2004-10-02

Applicant: 因芬尼昂技术股份公司

Inventor： E·塔尔曼恩

IPC: G11C29/00 ,  G11C11/401

CPC classification number: G11C29/14 ,  G11C29/46 ,  G11C2029/0407 ,  G11C2029/4402

Abstract: 本发明系提供一测试装置，用于藉由一测试系统以测试待测电路单元(101)，该待测电路单元(101)具有一缓存器装置(114)，其可储存初始化资料(115)，而可藉由一储存信号(110)而馈送，一控制单元(102)用于控制该初始化资料(115)的一储存，以及一开启单元(103)用于开启至少一待测电路单元(101)，一静电储存装置(201)用于非挥发性储存该初始化数据，其系由更配置于该待测电路单元(101)中的该储存信号所提供。

公开(公告)号：CN1604045A

公开(公告)日：2005-04-06

申请号：CN200410085138.2

申请日：2004-10-02

Applicant: 因芬尼昂技术股份公司

Inventor： S·博德特 ,  M·莫塞 ,  E·塔尔曼恩

IPC: G06F11/07 ,  G06F11/00 ,  G06F3/06

CPC classification number: G06F12/06 ,  G06F11/1666 ,  G06F11/20

Abstract: 本发明系提供一存储装置，其具有一存储模块(100)(其具有一存储库(101a))、一控制器处理器单元、一控制总线(104)、一地址总线(105)与一数据总线(106)用于在该控制器处理器单元(102)与该存储模块(100)中交换数据，该存储模块亦具有至少另一存储库(101b－101n)，其可被该控制器处理器单元(102)提供的至少一库选择信号(205a，205b)所激活且经由该控制总线(104)而被供应。