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公开(公告)号:CN1545630A
公开(公告)日:2004-11-10
申请号:CN01823597.2
申请日:2001-10-18
Applicant: 图南系统株式会社
IPC: G02B6/17
CPC classification number: G02B6/02285 , G02B6/105 , G02B6/255
Abstract: 本发明披露一种偏振模色散(PMD)仿真器,其能够在光纤跨度上很容易地复现出PMD效应。本发明的PMD仿真器包括:至少两个偏振保持(PM)光纤部分,每一个都具有预定的PMD值;机械旋转装置,旋转PM光纤部分中相邻光纤部分的其中一个;接合在两个相邻PM光纤部分之间的单模光纤,其中该单模光纤具有与任一PM光纤部分的PMD值相比可以忽略的非常小的PMD值。依照本发明,在研究理想光纤跨度的PMD效应的试验中,很容易复制出PMD效应。
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公开(公告)号:CN1165755C
公开(公告)日:2004-09-08
申请号:CN00803726.4
申请日:2000-10-06
Applicant: 图南系统株式会社
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。
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公开(公告)号:CN1340152A
公开(公告)日:2002-03-13
申请号:CN00803726.4
申请日:2000-10-06
Applicant: 图南系统株式会社
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。
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