利用反复的高速偏振扰频测量偏振依赖损耗的装置和方法

    公开(公告)号:CN1214258C

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN02800671.2

    申请日:2002-02-07

    CPC classification number: G01M11/337 G02B6/105

    Abstract: 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法,该损耗取决于入射光的偏振状态,即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备,该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器,同时光辐射探测器测量通过的光的强度,其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期,于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间,减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率,从而可以精确测量偏振依赖损耗。

    极化探测所需装置与方法

    公开(公告)号:CN1340152A

    公开(公告)日:2002-03-13

    申请号:CN00803726.4

    申请日:2000-10-06

    Inventor: 郑浩镇 李峰玩

    CPC classification number: G01J4/04

    Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。

    光纤偏振扰码器及用于其的操作参数输入方法

    公开(公告)号:CN1170185C

    公开(公告)日:2004-10-06

    申请号:CN98804348.3

    申请日:1998-07-14

    CPC classification number: G02B6/2786 G02F1/0134 G02F2001/0139

    Abstract: 使用至少两光纤双折射调制器(10,11)有效地降低光的偏振度(DOP)的一种光纤偏振扰码器和用于其的操作参数输入方法。双折射调制器由空心圆柱形压电装置(10,11)和一股连续地缠绕在这些压电装置的外壁上的光纤(30)构成。构成该光纤偏振扰码器的双折射调制器之间的角度被构成以对圆双折射的影响进行补偿。一种用于精确地构成双折射频率和双折射幅度以实现用于该光纤偏振扰码器的有效偏振扰码的方法也被提供。

    利用反复的高速偏振扰频测量偏振依赖损耗的装置和方法

    公开(公告)号:CN1459037A

    公开(公告)日:2003-11-26

    申请号:CN02800671.2

    申请日:2002-02-07

    CPC classification number: G01M11/337 G02B6/105

    Abstract: 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法,该损耗取决于入射光的偏振状态,即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备,该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器,同时光辐射探测器测量通过的光的强度,其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期,于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间,减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率,从而可以精确测量偏振依赖损耗。

    极化探测装置与方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1165755C

    公开(公告)日:2004-09-08

    申请号:CN00803726.4

    申请日:2000-10-06

    Inventor: 郑浩镇 李峰玩

    CPC classification number: G01J4/04

    Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。

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