公开(公告)号：CN1459037A

公开(公告)日：2003-11-26

申请号：CN02800671.2

申请日：2002-02-07

Applicant: 图南系统株式会社

Inventor： 高年完 ,  李峰玩 ,  金正元

IPC: G02B5/30

CPC classification number: G01M11/337 ,  G02B6/105

Abstract: 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法，该损耗取决于入射光的偏振状态，即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备，该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器，同时光辐射探测器测量通过的光的强度，其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期，于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间，减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率，从而可以精确测量偏振依赖损耗。

公开(公告)号：CN1214258C

公开(公告)日：2005-08-10

申请号：CN02800671.2

申请日：2002-02-07

Applicant: 图南系统株式会社

Inventor： 高年完 ,  李峰玩 ,  金正元

IPC: G02B5/30

CPC classification number: G01M11/337 ,  G02B6/105

Abstract: 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法，该损耗取决于入射光的偏振状态，即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备，该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器，同时光辐射探测器测量通过的光的强度，其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期，于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间，减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率，从而可以精确测量偏振依赖损耗。