一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构及其设计方法

    公开(公告)号:CN115963672A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202310021640.X

    申请日:2023-01-07

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明公开了一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构,包括依次层叠布置的至少两个电光晶体,每两个相邻的电光晶体之间均设置有补偿晶体;其中,电光晶体与补偿晶体具有相反的色散关系,以便于通过补偿晶体来补偿太赫兹光与探测光在电光晶体中积累的相位差。本发明根据需要选定电光晶体的种类和厚度,并选定一种具有和电光晶体相反色散关系的补偿晶体,并依据测量带宽及相位匹配条件计算其厚度,再根据测量带宽要求确定电光晶体的层数。与现有技术相比,本发明能够在保证信号强度的同时拓宽测量带宽,本发明不涉及精密微纳加工、成本低易于制作、不对晶体进行破坏性加工、可重复使用、可根据需要重新组合搭配,灵活度高。

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