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公开(公告)号：CN102235910A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201110074890.7
申请日：2011-03-24
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0251 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/10 , G01N21/255 , G01N21/59 , G01N2201/0655
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器。光学测量装置包括：光谱测量器(50)；用于传输作为测量对象的光的第1光纤(20)；在内壁上具有光扩散反射层(1a)的半球部(1)；以封闭半球部的开口部的方式配置的、在半球部的内壁侧具有镜面反射层(2a)的平面部(2)。平面部包括用于将通过第1光纤而被射出的光向由半球部和平面部形成的积分空间内导通的第1窗(5)。光学测量装置还包括将积分空间内的光透过平面部的第2窗(6)而向光谱测量器传输的第2光纤(30)。
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公开(公告)号：CN101893479A
公开(公告)日：2010-11-24
申请号：CN201010182880.0
申请日：2010-05-21
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中，根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果，来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即，在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后，测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动，同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。
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公开(公告)号：CN102192786B
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201110069976.0
申请日：2011-03-18
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01J1/58 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247 , G01N2021/6417 , G01N2021/6469 , G01N2201/0655
Abstract: 本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤：步骤(S10)，将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；步骤(S12)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；步骤(S20)，将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射；步骤(22)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；步骤(S40、S42、S46)，基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。
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公开(公告)号：CN101726361B
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN200910178173.1
申请日：2009-10-15
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/0219 , G01J3/0232 , G01J3/28
Abstract: 提供一种适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法。处理部在遮断向壳体入射的光后获取在与来自分光器的光的入射面对应的第一检测区域检测到的第一光谱和在与来自分光器的光的入射面不同的第二检测区域检测到的第一信号强度，接着，从第一光谱的各成分值中减去根据第一信号强度算出的第一校正值来算出第一校正光谱。处理部在打开遮断部的状态下获取在第一检测区域检测到的第二光谱和在第二检测区域检测到的第二信号强度，接着，从第二光谱的各成分值中减去根据第二信号强度算出的第二校正值来算出第二校正光谱。最终，处理部从第二校正光谱的各成分值中减去第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。
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公开(公告)号：CN101419091B
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN200810173234.0
申请日：2008-10-24
Applicant: 大*电子株式会社
Inventor： 大久保和明
CPC classification number: G01J1/04 , G01J1/08 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明涉及光通量计及总光通量的测量方法。在反射镜(3)上形成能够连通半球部(1)的内表面侧和外部侧之间的光源窗(2)及照明窗(4)。光源窗(2)主要是用于安装被测量光源(OBJ)的开口。照明窗(4)是用于向半球部(1)的内表面照射来自用于测量自吸收所使用的校正光源(9)的光束的开口。根据在光源窗(2)上安装有非发光状态的被测量光源(OBJ)的情况下由校正光束所产生的照度、和在光源窗(2)上安装有校正用反射镜的情况下由校正光束所产生的照度，算出被测量光源(OBJ)的自吸收校正系数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101726361A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910178173.1
申请日：2009-10-15
Applicant: 大电子株式会社
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/0219 , G01J3/0232 , G01J3/28
Abstract: 提供一种适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法。处理部在遮断向壳体入射的光后获取在与来自分光器的光的入射面对应的第一检测区域检测到的第一光谱和在与来自分光器的光的入射面不同的第二检测区域检测到的第一信号强度，接着，从第一光谱的各成分值中减去根据第一信号强度算出的第一校正值来算出第一校正光谱。处理部在打开遮断部的状态下获取在第一检测区域检测到的第二光谱和在第二检测区域检测到的第二信号强度，接着，从第二光谱的各成分值中减去根据第二信号强度算出的第二校正值来算出第二校正光谱。最终，处理部从第二校正光谱的各成分值中减去第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。
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公开(公告)号：CN102235910B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201110074890.7
申请日：2011-03-24
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0251 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/10 , G01N21/255 , G01N21/59 , G01N2201/0655
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器。光学测量装置包括：光谱测量器(50)；用于传输作为测量对象的光的第1光纤(20)；在内壁上具有光扩散反射层(1a)的半球部(1)；以封闭半球部的开口部的方式配置的、在半球部的内壁侧具有镜面反射层(2a)的平面部(2)。平面部包括用于将通过第1光纤而被射出的光向由半球部和平面部形成的积分空间内导通的第1窗(5)。光学测量装置还包括将积分空间内的光透过平面部的第2窗(6)而向光谱测量器传输的第2光纤(30)。
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公开(公告)号：CN101893479B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201010182880.0
申请日：2010-05-21
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明提供一种总光通量测量装置以及总光通量测量方法。在按照本实施方式的总光通量测量装置(100)中，根据在使对象物(OBJ)和积分部(10)相对移动以使对象物(OBJ)实质上全部的发光面暴露于积分部(10)的内部空间的情况下由测量部(21)测量照度的测量结果，来算出对象物(OBJ)所放射出的总光通量。即，在将对象物(OBJ)配置为从一个试样孔到另一个试样孔贯穿积分部(10)之后，测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量，接着，使积分部(10)相对于对象物(OBJ)相对移动，同样地测量对象物(OBJ)位于积分部(10)的内部空间的部分的光通量。
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公开(公告)号：CN102192786A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110069976.0
申请日：2011-03-18
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01J1/58 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247 , G01N2021/6417 , G01N2021/6469 , G01N2201/0655
Abstract: 本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤：步骤(S10)，将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；步骤(S12)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；步骤(S20)，将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射；步骤(22)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；步骤(S40、S42、S46)，基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。
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公开(公告)号：CN101419091A
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200810173234.0
申请日：2008-10-24
Applicant: 大电子株式会社
Inventor： 大久保和明
CPC classification number: G01J1/04 , G01J1/08 , G01J2001/0481
Abstract: 本发明涉及光通量计及总光通量的测量方法。在反射镜(3)上形成能够连通半球部(1)的内表面侧和外部侧之间的光源窗(2)及照明窗(4)。光源窗(2)主要是用于安装被测量光源(OBJ)的开口。照明窗(4)是用于向半球部(1)的内表面照射来自用于测量自吸收所使用的校正光源(9)的光束的开口。根据在光源窗(2)上安装有非发光状态的被测量光源(OBJ)的情况下由校正光束所产生的照度、和在光源窗(2)上安装有校正用反射镜的情况下由校正光束所产生的照度，算出被测量光源(OBJ)的自吸收校正系数。
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