Patent search ap:("大塚电子株式会社") AND inv:"松树义彦" Page 1

1.

发明公开
荧光测量装置无效

公开(公告)号：CN1556919A

公开(公告)日：2004-12-22

申请号：CN03801077.1

申请日：2003-03-24

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 松树义彦 , 藤村慎二

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6452 , G01N21/253 , G01N21/6458 , G01N2021/6417 , G01N2201/04 , G01N2201/0415

Abstract: 一种荧光测量装置布置成通过使用激发光源而基本同时测量在试样腔中的多个试样或者相同试样的多个点。该荧光测量装置有在激发光照射位置处的旋转试样台座(2)，多个通孔(2a)形成于旋转试样台座(2)的圆周上，且试样放置单元(3)可插入各个通孔(2a)中。通过使试样台座(2)相对于激发光照射位置运动，可以对多个试样进行荧光测量，同时不需要在试样腔(1)中更换试样。

Patent Agency Ranking