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发明公开
测量装置以及测量方法无效

公开(公告)号：CN114008406A

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN201980097689.5

申请日：2019-06-27

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 佐佐木勇贵 , 中村贤司 , 水野航

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种测量装置(100)，用于测量测量对象物的形状，该测量装置(100)具有：光源部(20)；受光部(30)；以及主体部(10)，包括：透光部(70)，射出线状光；投光光路(51)，其为从光源部(20)到透光部(70)的光路；以及受光光路(52)，其为从透光部(70)到受光部(30)的光路。

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