公开(公告)号：CN107806898B

公开(公告)日：2021-10-29

申请号：CN201710807755.6

申请日：2017-09-08

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 井上展幸 ,  永嶌拓

IPC: G01D21/02 ,  G01D3/036

Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。

公开(公告)号：CN107806898A

公开(公告)日：2018-03-16

申请号：CN201710807755.6

申请日：2017-09-08

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 井上展幸 ,  永嶌拓

IPC: G01D21/02 ,  G01D3/036

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/2876 ,  G01N21/274 ,  G01N21/359 ,  G01D21/02 ,  G01D3/036

Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。