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公开(公告)号：CN1202414C
公开(公告)日：2005-05-18
申请号：CN01813501.3
申请日：2001-07-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
Abstract: 按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板6移至光轴位置，光投射部分3a经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，另一方面，利用把可动反射板6移离光轴和把参照物8放在样品台10上，光投射部分3a经过参照物8投射的光，被光接收部分3b接收，据此确定两次接收的光强的比值。在样品测量时，则把可动反射板6移至光轴位置，光投射部分3a投射的光，经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，于是，用由此接收的光强和上述比值，估算用参照物测量的光强，用该估算的光强来校正经过样品接收的光强。
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公开(公告)号：CN1296684C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN01813502.1
申请日：2001-07-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 稻本直树
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0262 , G01J3/2803
Abstract: 按照本发明的光谱检测设备，包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b)，又在该设备中，透光板(13b)的前表面(S)是倾斜的，且在入射光中，一旦被透光板(13b)后表面(T)反射的任何光，此后的传播都被透光板(13b)的前表面(S)和后表面(T)全反射，射向透光板(13b)的侧表面(13d)。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。
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公开(公告)号：CN1444727A
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN01813501.3
申请日：2001-07-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
Abstract: 按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板6移至光轴位置，光投射部分3a经过可动反射板6、不动反射板11、和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，另一方面，利用把可动反射板6移离光轴和把参照物8放在样品台10上，光投射部分3a经过参照物8投射的光，被光接收部分3b接收，据此确定两次接收的光强的比值。在样品测量时，则把可动反射板6移至光轴位置，光投射部分3a投射的光，经过可动反射板6、不动反射板11、和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，于是，用由此接收的光强和上述比值，估算用参照物测量的光强，用该估算的光强来校正经过样品接收的光强。
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公开(公告)号：CN1444722A
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN01813502.1
申请日：2001-07-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 稻本直树
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0262 , G01J3/2803
Abstract: 按照本发明的光谱检测设备，包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b)，又在该设备中，透光板13b的前表面S是倾斜的，且在入射光中，一旦被透光板(13b)后表面T反射的任何光，此后的传播都被透光板(13b)的前表面S和后表面T全反射，射向透光板(13b)的侧表面13d。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。
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