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公开(公告)号：CN111257229B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN112798105B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202011271709.7
申请日：2020-11-13
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置，高精度地进行使用了CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正。具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法包括：曝光步骤，使曝光时间变化而使强度恒定的基准光依次入射CMOS线性图像传感器的注目受光元件；测定值获取步骤，依次获取所述注目受光元件的测定值；实际线性误差计算步骤，依次计算表示基于与所述测定值对应的所述曝光时间得到的线性值与该测定值之差的实际线性误差；以及拟合步骤，对所述各实际线性误差执行表示第一线性误差的第一函数的拟合。
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公开(公告)号：CN111257229A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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公开(公告)号：CN112798105A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011271709.7
申请日：2020-11-13
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置，高精度地进行使用了CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正。具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法包括：曝光步骤，使曝光时间变化而使强度恒定的基准光依次入射CMOS线性图像传感器的注目受光元件；测定值获取步骤，依次获取所述注目受光元件的测定值；实际线性误差计算步骤，依次计算表示基于与所述测定值对应的所述曝光时间得到的线性值与该测定值之差的实际线性误差；以及拟合步骤，对所述各实际线性误差执行表示第一线性误差的第一函数的拟合。
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