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公开(公告)号：CN112710393A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011149855.2
申请日：2020-10-23
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明通过一种光学测定装置、波长校正方法以及标准试样。光学测定装置包括以下单元：理论干涉谱获取单元，其获取基于标准试样的已知的厚度、折射率以及消光系数进行数学计算得出的、关于该标准试样的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为理论干涉谱；实测干涉谱获取单元，其获取利用受光器经由衍射光栅接收对标准试样照射测定光而产生的反射光或透过光所生成的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为实测干涉谱；关联信息获取单元，其获取用于决定理论干涉谱与实测干涉谱的关于波长的关联的关联信息；以及波长校正单元，其参照关联信息将用于规定多个受光元件的波长值的波长校正式决定为使对实测干涉谱应用波长校正式所得到的结果与理论干涉谱一致。
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公开(公告)号：CN101277457B
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN200810087451.8
申请日：2008-03-28
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种运动图像处理装置以及方法，使用电照相机(3a)多次拍摄在判定对象显示器(2)的显示画面(21)上移动的运动图像。所拍摄的数据由在判定对象显示器(2)的运动图像移动方向的位置以及这些各时刻中的显示器的发光亮度的信息组成。根据该数据，进行眼睛的运动图像跟踪模拟，通过沿着该眼睛的跟踪方向用(1)帧时间的整数倍进行积分计算，由此求判定对象显示器(2)的运动图像应答曲线。根据该运动图像应答曲线，能够进行运动图像特性评价、运动图像模糊评价。
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公开(公告)号：CN1255674C
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN02800492.2
申请日：2002-02-28
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01N21/474 , G01N21/8507 , G01N2021/4726 , G01N2021/4742 , G01N2021/4769
Abstract: 根据本发明的用于测量散射光的探头其结构如下：一光输入光纤(4)和一用于收集并传输散射光的散射光测量光纤(6)被插入探头(3)的主体中；该光纤(4)通过设置在该用于测量光散射的探头(3)中的孔向外延伸；每个光纤(4，6)的端部用套圈(66，67)覆盖；套圈(66，67)的一端被切削成截头圆锥形，以保留光纤(4，6)的一部分或整个端面；并由支撑体(70)等以这样一种方式对套圈(66，67)进行固定，使得光纤(4，6)的端面以预定的角度、其间以预定的距离被彼此靠近设置。因而，即使它们具有很差的强度，光纤的端部也可以由套圈加强和保护。此外，将套圈的端部切削成截头圆锥形，可以减小光纤端面之间的距离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101277457A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200810087451.8
申请日：2008-03-28
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种运动图像处理装置以及方法，使用电照相机(3a)多次拍摄在判定对象显示器(2)的显示画面(21)上移动的运动图像。所拍摄的数据由在判定对象显示器(2)的运动图像移动方向的位置以及这些各时刻中的显示器的发光亮度的信息组成。根据该数据，进行眼睛的运动图像跟踪模拟，通过沿着该眼睛的跟踪方向用(1)帧时间的整数倍进行积分计算，由此求判定对象显示器(2)的运动图像应答曲线。根据该运动图像应答曲线，能够进行运动图像特性评价、运动图像模糊评价。
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公开(公告)号：CN101035304A
公开(公告)日：2007-09-12
申请号：CN200710085086.2
申请日：2007-02-28
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: H04N17/04 , H04N9/3117 , H04N9/3194
Abstract: 本发明提供一种活动图像响应曲线的测定方法及其装置，在测定对象显示器(5)中使图像滚动，并用彩色摄影机(3)跟踪拍摄上述滚动着的活动图像以取得活动图像跟踪图像，并将使用了基于上述活动图像跟踪图像而得到的感光强度数据的彩色活动图像响应曲线变换成使用了测定对象显示器(5)的显示元件的发光强度的彩色活动图像响应曲线。能够逐个构成颜色地分解活动图像跟踪图像的边缘的差色，并进行色调变化的客观的定量评价。
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公开(公告)号：CN117940761A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202180102439.3
申请日：2021-09-16
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 光学测定系统包括：第一光源，其产生近红外线；硅基的图像传感器；以及光学系统，其包括将来自第一光源的光分支为第一光和第二光的分束器。光学系统构成为利用图像传感器记录第一全息图，该第一全息图是利用作为发散光的第二光将利用第一光对试样进行照明所得到的光进行调制而得到的全息图。
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公开(公告)号：CN111257229A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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公开(公告)号：CN111257229B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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