中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

10 records (took 0.043 seconds)

    分光測定装置
    6.
    发明专利
    分光測定装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018048980A

    公开(公告)日：2018-03-29

    申请号：JP2016186050

    申请日：2016-09-23

    Applicant: 大塚電子株式会社

    Inventor： 白岩 久志

    IPC: G01J3/02

    Abstract: 【課題】光ファイバの屈曲による測定誤差を低減するとともに、分光測定部に供給される光の光量を向上させることが可能な分光測定装置を提供する。 【解決手段】分光測定装置は、スリットを通じて入射する光を分光測定する分光測定部と、複数の光ファイバから供給される光を拡散する光拡散手段であって、拡散された光が直接又はレンズ若しくはミラーを介して前記スリットに入射するように前記スリットに対して物理的に固定される光拡散手段と、を備える。 【選択図】図1

    共焦点光学系測定装置、および共焦点光学系測定装置の製造方法
    9.
    发明专利
    共焦点光学系測定装置、および共焦点光学系測定装置の製造方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2019191420A

    公开(公告)日：2019-10-31

    申请号：JP2018085662

    申请日：2018-04-26

    Applicant: 大塚電子株式会社

    Inventor： 大塚 陽香 ,  白岩 久志 ,  水口 勉

    IPC: G02B21/00

    Abstract: 【課題】多焦点かつ共焦点の構成において、試料からの光の受光位置の精度を向上させる。 【解決手段】共焦点光学系測定装置は、光源と、投光ファイバ群と、受光ファイバ群と、分光器と、前記複数の投光ファイバからの複数の光束をそれぞれ集光して試料に照射し、前記試料における複数の集光点からの複数の光束を前記複数の受光ファイバにそれぞれ結像するための共焦点光学系とを備え、前記投光ファイバ群は、前記光源からの光を受ける複数の投光ファイバを含み、前記受光ファイバ群は、受けた光を前記分光器へ導くための複数の受光ファイバを含み、前記投光ファイバ群の端面の形状および前記受光ファイバ群の端面の形状が鏡面対称であり、前記投光ファイバ群および前記受光ファイバ群において、前記投光ファイバの端面の形状および対応の前記受光ファイバの端面の形状が鏡面対称である。 【選択図】図10

    分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法
    10.
    发明专利
    分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法 审中-公开

    公开(公告)号：JPWO2016151778A1

    公开(公告)日：2018-01-11

    申请号：JP2017507231

    申请日：2015-03-24

    Applicant: 大塚電子株式会社

    Inventor： 白岩 久志 ,  佐野 弘幸

    IPC: G01J3/10 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/10

    Abstract: 輝度基準面における輝度ムラを低減する。開口である輝度基準面(18)を備える積分球(12)と、前記積分球(12)の外壁(12b)に互いに離間して設けられ、前記積分球(12)の内部に波長特性が同等の光をそれぞれ入射する複数の第1光ポート(14a),(14b)と、を含む分光輝度計(40)の校正に用いる基準光源装置(10)が提供される。前記複数の第1光ポート(14a),(14b)は、前記積分球(12)の外壁(12b)における、前記輝度基準面(18)の中心からの距離が等しく、前記輝度基準面(18)の中心を通る前記積分球(12)の回転対称軸Rに対して回転対称性を有する複数位置に設けられてよい。

Patent Agency Ranking