公开(公告)号：CN102163245B

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201110041535.X

申请日：2011-02-21

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 江崎恒平 ,  森泉清和 ,  渡边高行 ,  前田裕治

IPC: G06F17/50 ,  G06F17/30

CPC classification number: G06F17/5045

Abstract: 本发明涉及电子设备设计装置、电子设备设计程序和方法。所述电子设备设计装置包括：选择单元，所述选择单元从元件数据库中选择符合特性条件的第一元件，所述元件数据库包括各元件的特性和推荐级别，所述推荐级别可变；第一判定单元，所述第一判定单元从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的推荐级别进行判定；创建单元，所述创建单元创建包括所述第一元件的电子设备的设计数据；以及第二判定单元，所述第二判定单元在创建之后从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的创建之后的推荐级别进行判定。

公开(公告)号：CN102163245A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN201110041535.X

申请日：2011-02-21

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 江崎恒平 ,  森泉清和 ,  渡边高行 ,  前田裕治

IPC: G06F17/50 ,  G06F17/30

CPC classification number: G06F17/5045

Abstract: 本发明涉及电子设备设计装置、电子设备设计程序和方法。所述电子设备设计装置包括：选择单元，所述选择单元从元件数据库中选择符合特性条件的第一元件，所述元件数据库包括各元件的特性和推荐级别，所述推荐级别可变；第一判定单元，所述第一判定单元从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的推荐级别进行判定；创建单元，所述创建单元创建包括所述第一元件的电子设备的设计数据；以及第二判定单元，所述第二判定单元在创建之后从所述元件数据库获取所述第一元件的推荐级别，并对所获取的创建之后的推荐级别进行判定。