公开(公告)号：CN102621111B

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN201210006360.3

申请日：2012-01-10

Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司

Inventor： H·比尔克 ,  B·威兹高斯盖 ,  H·尼森

IPC: G02B21/00

CPC classification number: G02B21/008 ,  G01N21/6458 ,  G02B21/0076

Abstract: 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施，在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施，以依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。

公开(公告)号：CN102621111A

公开(公告)日：2012-08-01

申请号：CN201210006360.3

申请日：2012-01-10

Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司

Inventor： H·比尔克 ,  B·威兹高斯盖 ,  H·尼森

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G02B21/008 ,  G01N21/6458 ,  G02B21/0076

Abstract: 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施，在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施，以依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。