测量样本中激发态寿命的方法

    公开(公告)号:CN103105383B

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201210459090.1

    申请日:2012-11-14

    CPC classification number: G01N21/6408 G01N21/6458 G01N2201/0697 G01N2201/12

    Abstract: 本发明公开了一种测量样本中激发态寿命的方法,特别是测量荧光寿命的方法,以及执行这种方法的设备。首先,生成激发脉冲并用该激发脉冲照亮样本区域。随后,生成表示激发脉冲的功率‑时间曲线的第一数字数据序列,并且根据第一数字数据序列确定第一开关时刻。此外,利用检测器检测从样本区域发出的检测光,生成表示检测光的功率‑时间曲线的第二数字数据序列,并且根据第二数字数据序列确定第二开关时刻。最后,计算第一和第二开关时刻之间的时间差。

    用于扫描显微镜的移相滤光器

    公开(公告)号:CN102648430B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201080054012.2

    申请日:2010-11-30

    CPC classification number: G02B21/0076 G02B21/0032 G02B21/248

    Abstract: 说明了一种用于扫描显微镜的光学装置,借助该装置能够很大程度上与波长不相关地实现光束的焦点形成及由此简化在较大的波长频谱中的高分辨率的显微技术、尤其是STED显微技术。在此,至少两个移相滤光器被设置在固定器上。该固定器有利地为可设置在光束的光程中的滤光盘或滤光滑板,其中优选地涉及在STED显微镜中的受激发光束的光程。所述固定器被构造为玻璃衬底,相应的移相滤光器被设置在该衬底上。符合目的地,一个位置为了调节目的还附加地位于所述固定器上,在通过该位置时光的波阵面不受影响,也就是说,在此涉及一个空位,没有移相滤光器位于该位置上。

    测量样本中激发态寿命的方法

    公开(公告)号:CN103105383A

    公开(公告)日:2013-05-15

    申请号:CN201210459090.1

    申请日:2012-11-14

    CPC classification number: G01N21/6408 G01N21/6458 G01N2201/0697 G01N2201/12

    Abstract: 本发明公开了一种测量样本中激发态寿命的方法,特别是测量荧光寿命的方法,以及执行这种方法的设备。首先,生成激发脉冲并用该激发脉冲照亮样本区域。随后,生成表示激发脉冲的功率-时间曲线的第一数字数据序列,并且根据第一数字数据序列确定第一开关时刻。此外,利用检测器检测从样本区域发出的检测光,生成表示检测光的功率-时间曲线的第二数字数据序列,并且根据第二数字数据序列确定第二开关时刻。最后,计算第一和第二开关时刻之间的时间差。

    用于扫描显微镜的移相滤光器

    公开(公告)号:CN102648430A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201080054012.2

    申请日:2010-11-30

    CPC classification number: G02B21/0076 G02B21/0032 G02B21/248

    Abstract: 说明了一种用于扫描显微镜的光学装置,借助该装置能够很大程度上与波长不相关地实现光束的焦点形成及由此简化在较大的波长频谱中的高分辨率的显微技术、尤其是STED显微技术。在此,至少两个移相滤光器被设置在固定器上。该固定器有利地为可设置在光束的光程中的滤光盘或滤光滑板,其中优选地涉及在STED显微镜中的受激发光束的光程。所述固定器被构造为玻璃衬底,相应的移相滤光器被设置在该衬底上。符合目的地,一个位置为了调节目的还附加地位于所述固定器上,在通过该位置时光的波阵面不受影响,也就是说,在此涉及一个空位,没有移相滤光器位于该位置上。

    用于扫描显微成像样本的方法和装置

    公开(公告)号:CN102621111B

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201210006360.3

    申请日:2012-01-10

    CPC classification number: G02B21/008 G01N21/6458 G02B21/0076

    Abstract: 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施,在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点,在相关扫描时间间隔内,反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度,依据相应扫描样本点上感测的强度,确定出强度平均值,作为平均值图像点信号,并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施,以依据相应扫描样本点上感测的强度,另外确定出强度方差值,作为方差图像点信号,并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。

    用于扫描显微成像样本的方法和装置

    公开(公告)号:CN102621111A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201210006360.3

    申请日:2012-01-10

    CPC classification number: G02B21/008 G01N21/6458 G02B21/0076

    Abstract: 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施,在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点,在相关扫描时间间隔内,反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度,依据相应扫描样本点上感测的强度,确定出强度平均值,作为平均值图像点信号,并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施,以依据相应扫描样本点上感测的强度,另外确定出强度方差值,作为方差图像点信号,并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。

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