公开(公告)号：CN102890095B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201210333501.2

申请日：2005-07-08

Applicant: 护照系统公司

Inventor： R.J.勒杜瓦 ,  W.伯托兹

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明涉及用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统。这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。

公开(公告)号：CN102890095A

公开(公告)日：2013-01-23

申请号：CN201210333501.2

申请日：2005-07-08

Applicant: 护照系统公司

Inventor： R.J.勒杜瓦 ,  W.伯托兹

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明涉及用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统。这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。