磁记录膜形成用溅射靶及其制造方法

    公开(公告)号:CN109943814B

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN201910149068.9

    申请日:2014-11-14

    Inventor: 荻野真一

    Abstract: 本发明涉及磁记录膜形成用溅射靶及其制造方法。一种含有C的FePt基磁记录膜形成用溅射靶,其特征在于,在与溅射面垂直的截面的抛光面中,Fe‑Pt合金相的平均厚度为10μm以上。本发明的课题在于提供抑制了溅射时由于异常放电而导致的粉粒产生的强磁性材料溅射靶。

    磁记录膜形成用溅射靶及其制造方法

    公开(公告)号:CN114959599A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210426425.3

    申请日:2015-09-18

    Inventor: 荻野真一

    Abstract: 本发明涉及磁记录膜形成用溅射靶及其制造方法。一种溅射靶,其为含有C和/或BN的FePt基烧结体溅射靶,其特征在于,在与该靶的溅射面垂直的截面的抛光面中AuCu合金粒子所占的面积率为0.5%以上且15%以下。本发明的课题在于提供可以减少在溅射时产生的粉粒,从而可以有效地形成磁记录介质的磁性薄膜的溅射靶。

Patent Agency Ranking