半导体搭载用布线基板、其制造方法及布线基板组件

    公开(公告)号:CN101356641B

    公开(公告)日:2011-05-18

    申请号:CN200680050392.6

    申请日:2006-12-20

    Abstract: 半导体搭载用布线基板(5),至少具有:绝缘膜(1);在绝缘膜(1)中形成的布线(2);多个电极凸台(4),这些电极凸台(4)在绝缘膜(1)的正反两面中露出表面地设置,而且其侧面的至少一部分被绝缘膜(1)埋设;以及连接布线(2)与电极凸台(4)的过孔(3)。用第1材料来形成连接布线(2)与电极凸台(4)的过孔(3)。将在绝缘膜(1)中形成的布线(2)彼此连接的至少一个过孔(3a),包含与第1材料不同的第2材料。半导体搭载用布线基板(5)有利于在半导体器件的高集成化、高速化或多功能化情况下的端子数量的增加及端子间隔的狭小间距化,特别是能够在基板两面高密度而且高精度地搭载半导体器件、可靠性也优异。

    焊锡及使用它的安装品
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1658998A

    公开(公告)日:2005-08-24

    申请号:CN03813071.8

    申请日:2003-07-01

    CPC classification number: B23K35/262 H05K3/3463

    Abstract: 本发明提供了与以往的Sn-37重量%Pb共晶系焊锡具有相同的操作性、使用条件和接合可靠性的无铅焊锡。通过规定为含有7-10重量%锌、0.001-6重量%铋、0.001-0.1重量%银且剩余部分由锡组成的组成,其固相线温度在Sn-37重量%Pb共晶系焊锡的熔点以上,液相线温度和Sn-37重量%Pb共晶系焊锡的熔点的差为约10-20℃,因此可以使用与使用以往的Sn-37重量%Pb共晶焊锡时相同的回流炉,安装电子器件。另外,银可提高焊锡的拉伸强度,抑制生成不希望的金属互化物。因此,不需要重新引入可以在基板整个表面上均匀加热的回流炉,并可获得具有比使用Sn-37重量%Pb共晶焊锡时更为优良的机械强度的、接合可靠性高的电路基板装置。

    半导体器件
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110349932B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN201910645110.6

    申请日:2014-01-29

    Abstract: 使半导体器件特性提高。半导体器件具有形成于层间绝缘膜(IL2)上的线圈(CL1)及布线(M2);形成于层间绝缘膜(IL3)上的布线(M3);形成于层间绝缘膜(IL4)上的线圈(CL2)及布线(M4)。且线圈(CL2)与布线(M4)的距离(DM4)比线圈(CL2)与布线(M3)的距离(DM3)大(DM4>DM3)。另线圈(CL2)与布线(M3)的距离(DM3)大于等于位于线圈(CL1)与线圈(CL2)间的层间绝缘膜(IL3)的膜厚与层间绝缘膜(IL4)的膜厚之和。由此能使易产生高电压差的线圈(CL2)与布线(M4)间等的绝缘耐压提高。另设置包围变压器形成区域(1A)和周边回路形成区域(1B)的密封环形成区域(1C),实现耐湿性的提高。

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