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公开(公告)号：CN1034973C
公开(公告)日：1997-05-21
申请号：CN93117701.4
申请日：1993-09-14
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 安达聪
CPC classification number: G01D5/2451 , G01D5/2415
Abstract: 本发明公开了用于绝对位置测量的测量装置，它包括位移传感器、解调器、相位检测器、复合电路和显示部分。
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公开(公告)号：CN105806201B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610035807.8
申请日：2016-01-19
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明涉及一种位移测量装置和位移测量方法。相位检测器包括：采样信号生成器，其被配置为在刻度信号的边沿处生成采样信号；计数器，其被配置为根据时钟脉冲每隔特定时间对计数值进行加计数，并且在所述采样信号所指示的定时输出计数值；边沿极性判断部，其被配置为判断所述刻度信号的边沿极性是上升沿还是下降沿，并且在生成所述采样信号的边沿的极性是下降沿的情况下，生成调整信号；以及调整器，其被配置为在接收到所述调整信号的情况下，向从所述计数器输出的计数值加上预定的调整量。
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公开(公告)号：CN112697176B
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202011073288.7
申请日：2020-10-09
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了使不必要的电力消耗最小化并改善电力效率的位移测量装置。位移测量装置包括：主标尺；以及检测头，其以相对于主标尺可相对位移的方式设置，并输出具有根据相对于所述主标尺的相对位移而改变的相位的周期信号。检测头输出作为周期信号的、具有粗周期的粗刻度信号和具有细周期的密刻度信号。粗相位检测器根据从粗刻度信号获取的两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位。密相位检测器根据从密刻度信号获取的四个相位信息来计算密刻度信号的平均相位。粗相位检测器根据这两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位，然后在没有完成密相位检测器的操作的情况下停止操作。
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公开(公告)号：CN105806201A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610035807.8
申请日：2016-01-19
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明涉及一种位移测量装置和位移测量方法。相位检测器包括：采样信号生成器，其被配置为在刻度信号的边沿处生成采样信号；计数器，其被配置为根据时钟脉冲每隔特定时间对计数值进行加计数，并且在所述采样信号所指示的定时输出计数值；边沿极性判断部，其被配置为判断所述刻度信号的边沿极性是上升沿还是下降沿，并且在生成所述采样信号的边沿的极性是下降沿的情况下，生成调整信号；以及调整器，其被配置为在接收到所述调整信号的情况下，向从所述计数器输出的计数值加上预定的调整量。
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公开(公告)号：CN1106081C
公开(公告)日：2003-04-16
申请号：CN97114750.7
申请日：1997-07-17
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 安达聪
IPC: H03M7/12
CPC classification number: H03M7/12
Abstract: 第一和第二移位寄存器(1和2)分别有4位×N和4位×M级，用于从LSD和MSD起4位4位地储存操作结果的BCD和要译码的BIN数据。D-F/F(5)储存第一寄存器(1)的输出和中间结果，将其输出经第一选择器(3)供给运算/逻辑电路(6)。第二选择器(4)选择第二寄存器(2)的输出供给该电路。该电路对第一寄存器(1)的数据乘16，将结果加到第二寄存器(2)的4位数据上并做进位处理。在移位时钟SCK(1)的前半周将电路的输出DO存在D-F/F(5)中，并在后半周存在第一寄存器(1)中。第一寄存器(1)做一周，而第二寄存器(2)只移位一级。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1175729A
公开(公告)日：1998-03-11
申请号：CN97114750.7
申请日：1997-07-17
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 安达聪
IPC: G06F7/00
CPC classification number: H03M7/12
Abstract: 第一第二移位寄存器1和2分别有4位×N和4位×M级,用于从LSD和MSD起4位4位地储存操作结果的BCD和要译码的BIN数据。D－F/F5储存寄存器1的输出和中间结果,将其输出经第一选择器3供给运算/逻辑电路6。第二选择器4选择寄存器2的输出供给该电路。该电路对寄存器1的数据乘16,将结果加到寄存器2的4位数据上并做进位处理。在移位时钟SCK1的前半周将电路的输出DO存在D－F/F5中,并在后半周存在寄存器1中。寄存器1做一周寄存器2只移位一级。
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公开(公告)号：CN112697176A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011073288.7
申请日：2020-10-09
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了使不必要的电力消耗最小化并改善电力效率的位移测量装置。位移测量装置包括：主标尺；以及检测头，其以相对于主标尺可相对位移的方式设置，并输出具有根据相对于所述主标尺的相对位移而改变的相位的周期信号。检测头输出作为周期信号的、具有粗周期的粗刻度信号和具有细周期的密刻度信号。粗相位检测器根据从粗刻度信号获取的两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位。密相位检测器根据从密刻度信号获取的四个相位信息来计算密刻度信号的平均相位。粗相位检测器根据这两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位，然后在没有完成密相位检测器的操作的情况下停止操作。
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公开(公告)号：CN1036023C
公开(公告)日：1997-10-01
申请号：CN93107991.8
申请日：1993-06-25
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/2415
Abstract: 一种用于绝对位置测量的电容型测量器具，包括一个有固定和可动元件的位移传感器，可动元件以电容耦合方式耦合到固定元件并可与其相对运动，位移传感器根据两元件的相对位置输出信号；一个信号处理电路，用于处理该传感器的输出信号并根据两元件的位移输出绝对测量值；一个控制电路，用于控制位移传感器和信号处理电路的工作；一个电源装置，用于提供电能；其中控制电路按适当的时间间隔启动信号处理电路以进行间歇测量工作。
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公开(公告)号：CN1086309A
公开(公告)日：1994-05-04
申请号：CN93117701.4
申请日：1993-09-14
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 安达聪
IPC: G01B7/02
CPC classification number: G01D5/2451 , G01D5/2415
Abstract: 本发明公开了用于绝对位置测量的测量装置，它包括位移传感器、解调器、相位检测器、复合电路和显示部分。
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公开(公告)号：CN1084268A
公开(公告)日：1994-03-23
申请号：CN93107991.8
申请日：1993-06-25
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/2415
Abstract: 一种用于绝对位置测量的电容型测量器具，包括一个有固定和可动元件的位移传感器，可动元件以电容耦合方式耦合到固定元件并可与其相对运动，位移传感器根据两元件的相对位置输出信号；一个信号处理电路，用于处理该传感器的输出信号并根据两元件的位移输出绝对测量值；一个控制电路，用于控制位移传感器和信号处理电路的工作；一个电源装置，用于提供电能；其中控制电路按适当的时间间隔启动信号处理电路以进行间歇测量工作。
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