公开(公告)号：CN1210253A

公开(公告)日：1999-03-10

申请号：CN98116335.1

申请日：1998-07-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 山城弘志 ,  坪井雅士 ,  尾关敏治 ,  川田洋明

IPC: G01B3/18

CPC classification number: G01B3/22

Abstract: 本发明测定器包括箱本体、可位移地设置在此箱本体上的测轴、通过基板固定在箱本体上的固定侧检测元件以及在固定于测轴的刻度尺上形成的可动侧检测元件,使此两检测元件按规定间隙G对向相合,检测该相对位移量,为了把因测轴振动等引起的间隙G的变动抑制在容许值内,在测轴一侧设限制扩大构件,在固定侧检测元件上设间隙缩小限制构件,从而提供具有耐振动、冲击性能、适于工厂使用的测定器。

公开(公告)号：CN1129770C

公开(公告)日：2003-12-03

申请号：CN98116335.1

申请日：1998-07-17

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 山城弘志 ,  坪井雅士 ,  尾关敏治 ,  川田洋明

IPC: G01B3/18 ,  G01B3/00 ,  G01B5/00 ,  G01B7/00 ,  G01B11/00

CPC classification number: G01B3/22

Abstract: 本发明测定器包括箱本体、通过将多个耐冲击轴承按首尾相连配置成的支承结构可位移地设置在此箱本体上的测轴、通过基板固定在箱本体上的固定侧检测元件以及在固定于测轴的刻度尺上形成的可动侧检测元件，使此两检测元件按规定间隙G对向相合，检测该相对位移量，为了把因测轴振动等引起的间隙G的变动抑制在容许值内，在测轴一侧设限制扩大构件，在固定侧检测元件上设间隙缩小限制构件，从而提供具有耐振动、冲击性能、适于工厂使用的测定器。