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公开(公告)号：CN1129770C
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：CN98116335.1
申请日：1998-07-17
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B3/22
Abstract: 本发明测定器包括箱本体、通过将多个耐冲击轴承按首尾相连配置成的支承结构可位移地设置在此箱本体上的测轴、通过基板固定在箱本体上的固定侧检测元件以及在固定于测轴的刻度尺上形成的可动侧检测元件，使此两检测元件按规定间隙G对向相合，检测该相对位移量，为了把因测轴振动等引起的间隙G的变动抑制在容许值内，在测轴一侧设限制扩大构件，在固定侧检测元件上设间隙缩小限制构件，从而提供具有耐振动、冲击性能、适于工厂使用的测定器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103487075B
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201310231668.2
申请日：2013-06-09
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/34715 , G01D5/34 , G02B7/02
Abstract: 光学编码器及其透镜固定机构。光学编码器包括检测头（20）。检测头包括：光学系统，其包括透镜（22、24）和光圈板（28），透镜包括与透镜一体形成的一对凸起（22A、24A），该对凸起布置成透镜的光轴在该对突起之间，光圈板具有一对基准销插入孔（28A、28B），该对基准销插入孔布置成光圈开口在该对基准销插入孔之间；壳体（26），包括一对安装部（26D）并具有布置在中心对称面（P1）上的一对透镜凸起插入孔（26A、26B）和一对基准销插入孔（26C）；透镜保持件（30），具有配置在中心对称面上的一对透镜凸起插入孔和一对基准销插入孔；一对基准销（32），用于使透镜保持件和光圈板相对于壳体定位。以凸起和基准销为基准调整光学系统的光轴。
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公开(公告)号：CN102840872B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201210208247.3
申请日：2012-06-19
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 川田洋明
IPC: G01D3/08
CPC classification number: G01D5/24438 , G01D5/34707
Abstract: 本发明提供一种标尺的刻度保护结构，其刻度部（14）形成在标尺基板（12）上且由配置在该刻度部的上表面侧的标尺护罩（16）保护，利用混合有抑制刻度劣化成分渗透的玻璃粉末（粉末材料）（32）的粘接剂密封上述标尺基板与上述标尺护罩之间的上述刻度部的整个侧方四周而形成四周粘接层（30），由此，抑制刻度部由水分等刻度劣化成分导致的老化。而且，借助配置在上述刻度部的四周的高度限定部（40），将上述标尺护罩支承在上述标尺基板上，由此，防止编码器由将标尺护罩粘接在刻度部上的粘接剂的厚度不均导致的输出变动。
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公开(公告)号：CN103487075A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310231668.2
申请日：2013-06-09
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01D5/34715 , G01D5/34 , G02B7/02
Abstract: 光学编码器及其透镜固定机构。光学编码器包括检测头（20）。检测头包括：光学系统，其包括透镜（22、24）和光圈板（28），透镜包括与透镜一体形成的一对凸起（22A、24A），该对凸起布置成透镜的光轴在该对突起之间，光圈板具有一对基准销插入孔（28A、28B），该对基准销插入孔布置成光圈开口在该对基准销插入孔之间；壳体（26），包括一对安装部（26D）并具有布置在中心对称面（P1）上的一对透镜凸起插入孔（26A、26B）和一对基准销插入孔（26C）；透镜保持件（30），具有配置在中心对称面上的一对透镜凸起插入孔和一对基准销插入孔；一对基准销（32），用于使透镜保持件和光圈板相对于壳体定位。以凸起和基准销为基准调整光学系统的光轴。
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公开(公告)号：CN102840872A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210208247.3
申请日：2012-06-19
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 川田洋明
IPC: G01D3/08
CPC classification number: G01D5/24438 , G01D5/34707
Abstract: 本发明提供一种标尺的刻度保护结构，其刻度部（14）形成在标尺基板（12）上且由配置在该刻度部的上表面侧的标尺护罩（16）保护，利用混合有抑制刻度劣化成分渗透的玻璃粉末（粉末材料）（32）的粘接剂密封上述标尺基板与上述标尺护罩之间的上述刻度部的整个侧方四周而形成四周粘接层（30），由此，抑制刻度部由水分等刻度劣化成分导致的老化。而且，借助配置在上述刻度部的四周的高度限定部（40），将上述标尺护罩支承在上述标尺基板上，由此，防止编码器由将标尺护罩粘接在刻度部上的粘接剂的厚度不均导致的输出变动。
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公开(公告)号：CN1210253A
公开(公告)日：1999-03-10
申请号：CN98116335.1
申请日：1998-07-17
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B3/18
CPC classification number: G01B3/22
Abstract: 本发明测定器包括箱本体、可位移地设置在此箱本体上的测轴、通过基板固定在箱本体上的固定侧检测元件以及在固定于测轴的刻度尺上形成的可动侧检测元件,使此两检测元件按规定间隙G对向相合,检测该相对位移量,为了把因测轴振动等引起的间隙G的变动抑制在容许值内,在测轴一侧设限制扩大构件,在固定侧检测元件上设间隙缩小限制构件,从而提供具有耐振动、冲击性能、适于工厂使用的测定器。
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