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公开(公告)号：CN101995216A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN201010249114.1
申请日：2010-08-06
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: H04N5/23212 , H04N5/2354
Abstract: 一种图像测量装置1包括选通照亮单元21、照相机22、移动机构23、和控制器3。所述控制器3包括焦点位置探测器4，后者通过控制移动机构23以沿着照相机22的光轴以预定的速度移动照相机22并且通过所述照相机22以在多个相对位置上摄取测量目标对象的图像，来探测所述照相机22的焦点位置。所述焦点位置探测器4包括照明控制单元41和对比度探测单元43，所述照明控制单元41控制选通照明单元21的发光时间，从而控制照明的亮度，所述对比度探测单元43探测由照相机22摄取的图像的对比度。
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公开(公告)号：CN107131853A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710104606.3
申请日：2017-02-24
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供一种能够保持高灵敏度并且以简易的结构降低灵敏度的测定方向依赖性的测定探头。在探头外壳(306)的轴向(O)上具备两个容许测针(336)的姿势变化的、呈旋转对称形状的支承构件(322、324)，在两个支承构件(322、324)中的具备四个能够变形的臂部(324B)的一个支承构件(324)，四个检测元件(325)配置在四重对称的位置，信号处理电路(320)具备第一处理部(364)，该第一处理部(364)对检测元件(325)的输出进行处理，输出表示接触部(362)在彼此正交的三个方向的各方向上的位移分量的三个位移信号(Vx、Vy、Vz)。
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公开(公告)号：CN107131861A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710104608.2
申请日：2017-02-24
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 提供一种构造简易并且能够确保高测定灵敏度的测定探头。测定探头具备：测针，其具有用于与被测定物接触的接触部；探头外壳，其能够将测针支承在轴心上；以及检测元件，其能够检测接触部的移动，该测定探头具备配置于探头外壳的轴向且容许测针的姿势变化的两个支承构件以及将两个支承构件连结的连结轴，对两个支承构件中的离旋转中心位置最远的支承构件配置检测元件，利用检测元件来检测支承构件的应变量，其中，旋转中心位置是在对接触部从与轴向正交的方向施加测定力时测针所产生的旋转的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN102538837B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201110428090.0
申请日：2011-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 金森宏之
IPC: G01D5/244
CPC classification number: G01D5/3473 , G01B11/272 , G01D5/24485
Abstract: 本发明公开了用于估值偏心值的旋转编码器和方法。角度检测装置包括：被旋转轴支承的格栅盘；以及沿所述格栅盘的周向等间距地排列成邻近所述格栅盘的前表面的三个或更多个检测器。通过各检测器检测从预定的初始位置旋转了基准角度的格栅盘的旋转角度。从所述旋转角度与所述基准角度之间的差值测量各所述检测器处的角度误差。通过相对于所述旋转中心使各所述检测器的方向矢量旋转90°来获得切向矢量。计算与所述切向矢量的内积为所述角度误差的偏心矢量。
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公开(公告)号：CN117663966A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311135951.5
申请日：2023-09-05
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/00
Abstract: 一种测量系统包括具有接触待测量工件的接触部分的测量探头。该测量探头在移动模式的至少一部分期间以第一更新速率操作，其中移动模式包括测量探头的使得接触部分远离工件移动和/或在距工件等于或大于阈值距离的距离处移动的移动。该测量探头在测量模式的至少一部分期间以第二更新速率(即，比该第一更新速率快)操作，其中该测量模式包括测量探头的使得接触部分朝向工件移动以获得测量结果的移动。在各种实施方式中，对第一更新速率和第二更新速率的组合使用有效地减少了测量探头的通电漂移。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111238433A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN201911191667.3
申请日：2019-11-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 提供一种探针单元以及测定系统。在具有测定探针的探针单元中，信号处理电路具备：信号合成部，其对检测元件的输出进行处理并输出将接触部的在互相正交的3个方向中的各个方向上的位移成分进行合成所得到的合成信号；以及信号输出部，其在合成信号满足了阈值条件时，将数字触摸信号输出到探针单元的外部，其中，信号输出部具备将阈值条件与合成信号进行比较的3个比较部，在进行被测定物的测定时，信号输出部输出与第一比较部的输出及第二比较部的输出相应的数字触摸信号。由此，提供一种能够在确保高的抗噪声性的同时稳定地进行高精度的测定的测定探针以及测定系统。
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公开(公告)号：CN101995216B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201010249114.1
申请日：2010-08-06
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: H04N5/23212 , H04N5/2354
Abstract: 一种图像测量装置1包括选通照亮单元21、照相机22、移动机构23、和控制器3。所述控制器3包括焦点位置探测器4，后者通过控制移动机构23以沿着照相机22的光轴以预定的速度移动照相机22并且通过所述照相机22以在多个相对位置上摄取测量目标对象的图像，来探测所述照相机22的焦点位置。所述焦点位置探测器4包括照明控制单元41和对比度探测单元43，所述照明控制单元41控制选通照明单元21的发光时间，从而控制照明的亮度，所述对比度探测单元43探测由照相机22摄取的图像的对比度。
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公开(公告)号：CN111238433B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201911191667.3
申请日：2019-11-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 提供一种探针单元以及测定系统。在具有测定探针的探针单元中，信号处理电路具备：信号合成部，其对检测元件的输出进行处理并输出将接触部的在互相正交的3个方向中的各个方向上的位移成分进行合成所得到的合成信号；以及信号输出部，其在合成信号满足了阈值条件时，将数字触摸信号输出到探针单元的外部，其中，信号输出部具备将阈值条件与合成信号进行比较的3个比较部，在进行被测定物的测定时，信号输出部输出与第一比较部的输出及第二比较部的输出相应的数字触摸信号。由此，提供一种能够在确保高的抗噪声性的同时稳定地进行高精度的测定的测定探针以及测定系统。
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公开(公告)号：CN112050765B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202010506921.0
申请日：2020-06-05
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法。一种测定测头的不良状况判定单元，该测定测头具备：测针，其具有与被测定物接触的接触部；四个检测元件，其能够检测接触部的移动；以及信号处理部，其对从四个检测元件的输出获得的生成信号进行处理，来输出触碰信号，该测定测头的不良状况判定单元具备：不良状况判定部，其在被测定物不与接触部接触的状态下，将与生成信号对应的四个判定信号同规定的阈值进行比较，如果任一个判定信号大于规定的阈值，则判定为存在不良状况；以及判定结果输出部，其输出不良状况判定部的判定结果。由此，能够通过简单的结构来确保测定的可靠性。
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公开(公告)号：CN112050765A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010506921.0
申请日：2020-06-05
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法。一种测定测头的不良状况判定单元，该测定测头具备：测针，其具有与被测定物接触的接触部；四个检测元件，其能够检测接触部的移动；以及信号处理部，其对从四个检测元件的输出获得的生成信号进行处理，来输出触碰信号，该测定测头的不良状况判定单元具备：不良状况判定部，其在被测定物不与接触部接触的状态下，将与生成信号对应的四个判定信号同规定的阈值进行比较，如果任一个判定信号大于规定的阈值，则判定为存在不良状况；以及判定结果输出部，其输出不良状况判定部的判定结果。由此，能够通过简单的结构来确保测定的可靠性。
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