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公开(公告)号：CN102401777B
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201110251703.8
申请日：2011-08-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N15/00
CPC classification number: G01N21/51 , G01N2021/513
Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体(21)，形成沿长边方向延伸的内部空间(S1)，并在一个端部(21x)开口；一对施加电极(22)，在内部空间(S1)中相对配置；固定间隔件(23)，通过夹在一对施加电极(22)之间，限定所述施加电极(22)之间的距离，并且固定一对施加电极(22)。在把固定间隔件(23)插入到池主体(21)内的状态下，在池主体(21)的内部空间(S1)的下部形成一对施加电极(22)露出的zeta电位测量空间(S2)。
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公开(公告)号：CN114729866A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202080080007.2
申请日：2020-11-09
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种粒径分布测量装置，能边使试样的状态变化边测量粒径分布，所述粒径分布测量装置(100)具备：光源(LS)，对收容在具备彼此分开规定距离的一对的透光板(C1)的池(C)内的试样射出测量光；一个或多个检测器(D1、D2)，检测在试样中被散射的测量光；粒径分布计算器(P2)，根据所述检测器(D1、D2)的输出信号，计算所述试样(S)中包含的粒子群的粒径分布，还具备通过使一对的所述透光板的至少一方移动来对所述池内的试样施加压力或剪切力的力施加机构(1)，所述粒径分布计算器(P2)构成为计算对试样(S)施加的压力或剪切力从第一状态变化为第二状态的时点的粒径分布。
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公开(公告)号：CN111065906A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201880058069.6
申请日：2018-09-10
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 本发明提供能使粉末试样以相比以往更高的水平均匀分散的试样分散装置，其包括：容器(1)，内部形成有分散室(11)，粉末试样(S)在分散室(11)分散；以及导入机构(J)，利用所述容器(1)的内外的压力差，将包含粉末试样的气体从所述容器(1)的外侧导入所述分散室(11)内，所述导入机构(J)具备包含粉末试样(S)的气体流经的导入管(2)，以及设置于所述导入管(2)的多个节流件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119487358A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202380050002.9
申请日：2023-06-27
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01B15/02 , G01N23/087 , G01N23/223
Abstract: 本发明提供一种能够测量比以往更多的多层试样的厚度的厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序。在厚度测量方法中，向包括层叠的第一层以及第二层的试样以X射线按所述第一层、所述第二层的顺序透过的方式照射所述X射线，检测从所述第一层产生的荧光X射线，检测透过所述试样后的透过X射线，通过基于所述荧光X射线的元素分析，确定所述第一层中的X射线的吸收系数以及所述第一层的密度，基于所述透过X射线的不同的两个能量下的强度、所述吸收系数以及所述密度，计算所述第一层的厚度。
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公开(公告)号：CN111065906B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN201880058069.6
申请日：2018-09-10
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 本发明提供能使粉末试样以相比以往更高的水平均匀分散的试样分散装置，其包括：容器(1)，内部形成有分散室(11)，粉末试样(S)在分散室(11)分散；以及导入机构(J)，利用所述容器(1)的内外的压力差，将包含粉末试样的气体从所述容器(1)的外侧导入所述分散室(11)内，所述导入机构(J)具备包含粉末试样(S)的气体流经的导入管(2)，以及设置于所述导入管(2)的多个节流件。
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公开(公告)号：CN102401777A
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN201110251703.8
申请日：2011-08-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N15/00
CPC classification number: G01N21/51 , G01N2021/513
Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体(21)，形成沿长边方向延伸的内部空间(S1)，并在一个端部(21x)开口；一对施加电极(22)，在内部空间(S1)中相对配置；固定间隔件(23)，通过夹在一对施加电极(22)之间，限定所述施加电极(22)之间的距离，并且固定一对施加电极(22)。在把固定间隔件(23)插入到池主体(21)内的状态下，在池主体(21)的内部空间(S1)的下部形成一对施加电极(22)露出的zeta电位测量空间(S2)。
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公开(公告)号：CN301351818S
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN201030115265.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 1.本外观设计产品的名称是试料分析计。2.本外观设计产品的用途是：测定容纳于测定元件之中的试料的物性，例如测定分散在测定元件中的粒子群的纵横比和凝集度等的粒子形状或者粒径分布、泽塔电位和分子量等试料的物性。3.本外观产品的设计要点是：(1)在分析计主体朝上的那面上，有安装或拆卸测定元件时可开启、关闭的开合盖板；(2)在开合盖板的旁边配置有例如椭圆形(包含圆形)的测定按钮。4.立体参考图是最能表明设计要点的图片。
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