公开(公告)号：CN101512356A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200680055826.1

申请日：2006-09-15

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 相泽·光范 ,  伊藤·明彦

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2893

Abstract: 测试托盘TST具备可收容IC器件的多个插入件82和可游动地保持该插入件82的框架构件81，各插入件82以与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向置放在框架构件82上，插入件82配置成沿与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向叠置在框架构件81上。

公开(公告)号：CN304548806S

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201730385760.3

申请日：2017-08-21

Applicant: 株式会社爱德万测试

Designer： 筬部明浩 ,  伊藤·明彦

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：电子零件测试装置用载体；
2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品涉及一种设置于托盘上的载体，该托盘被搬送至用于测试半导体集成回路等电子零件电气特性的电子零件测试装置上；
如表示使用状态的截面参考图所示，在测试电子零件时，将保持于载体上的电子零件从上方按压于插座上，通过将从电子零件导出的外部连接端子与插座的端子接触，并借助插座实现电子零件以及电子零件测试装置的电气连接，电子零件测试装置对该状态下的电子零件进行测试；
配置于载体底面的座体上设置有电子零件，座体的外周部通过铆钉固定于载体的外周部，载体底面外周部上的通过上述铆钉将座体外周部固定的斜面，是为了避免上述铆钉和插座之间的干涉而设计的；
3．本外观设计的设计要点：产品的形状；
4．最能表明设计要点的图片或者照片：仰视图。