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发明公开
微粒测定系统、计测装置审中-实审

公开(公告)号：CN114556083A

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202180005845.8

申请日：2021-01-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐藤浩 , 鹫津信荣

IPC: G01N15/10 , G01N15/12

Abstract: 纳米孔设备(100)具有细孔(104)及电极对(106、108)。电流测定部(202)将与电压设定指令(SET_V)对应的偏压电压(Vb)向电极对(106、108)之间施加，并且生成与流过纳米孔设备(100)的电流信号(Is)对应的数字的电流数据(DATA_I)。数据处理装置(300)生成电压设定指令(SET_V)，并且，将电流数据(DATA_I)和包含与偏压电压(Vb)的波形相关的信息在内的电压数据(DATA_V)以在时间轴上建立起关联的形式获取，基于电流数据(DATA_I)和电压数据(DATA_V)，判定收容于纳米孔设备(100)的粒子的种类。

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