公开(公告)号：CN117907164A

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202311170999.X

申请日：2023-09-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 今井康晴 ,  鹫津信荣 ,  生沼浩介

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/08

Abstract: 本发明提供能够进行准确的信息管理的孔隙设备。孔隙设备(100A)与计测装置(200A)一起使用。孔隙设备(100A)具有孔隙芯片(102)、以及由孔隙芯片(102)划分的腔室即芯片盒(130)。测定用端子组(110)是为了从计测装置(200A)向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置(200A)而设置的。接口单元(150)与非易失性存储器(140)连接，是为了从外部访问非易失性存储器(140)而设置的。

公开(公告)号：CN114556083A

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202180005845.8

申请日：2021-01-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 佐藤浩 ,  鹫津信荣

IPC: G01N15/10 ,  G01N15/12

Abstract: 纳米孔设备(100)具有细孔(104)及电极对(106、108)。电流测定部(202)将与电压设定指令(SET_V)对应的偏压电压(Vb)向电极对(106、108)之间施加，并且生成与流过纳米孔设备(100)的电流信号(Is)对应的数字的电流数据(DATA_I)。数据处理装置(300)生成电压设定指令(SET_V)，并且，将电流数据(DATA_I)和包含与偏压电压(Vb)的波形相关的信息在内的电压数据(DATA_V)以在时间轴上建立起关联的形式获取，基于电流数据(DATA_I)和电压数据(DATA_V)，判定收容于纳米孔设备(100)的粒子的种类。

公开(公告)号：CN118150410A

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202311427005.8

申请日：2023-10-31

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 生沼浩介 ,  高田武晃 ,  鹫津信荣

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/00

Abstract: 本发明提供能够改善测定精度的孔设备。孔芯片(400)具备具有孔(412)的膜片(410)。在将孔(412)的直径设为d并将膜片(410)的厚度设为t时，满足1≤t/d＜2的关系。

公开(公告)号：CN102144166A

公开(公告)日：2011-08-03

申请号：CN200880130999.4

申请日：2008-09-04

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 鹫津信荣 ,  舘野浩彰

IPC: G01R31/28 ,  H03K3/02 ,  H03K5/00

CPC classification number: G01R31/2841 ,  H03K3/84 ,  H03K5/131

Abstract: 定时设定数据(T1～Tn)包含表示正沿的定时的置位定时信号(S)和表示负沿的定时的复位定时信号(R)的任意组合。分类部(30)根据n个定时设定数据(T1～Tn)各自表示的定时的顺序对它们进行分类。开放处理部(33)参照分类出的定时设定数据(TS1～TSn)，检测置位定时信号(S)的连续或者复位定时信号(R)的连续，使连续的置位定时信号(S)的一方、连续的复位定时信号(R)的一方无效。边沿分配部(34)从m个置位/复位用可变延迟电路中直至当前的使用次数最低者开始依次分别分配未被无效而余留的置位/复位定时信号(S/R)。

公开(公告)号：CN119246380A

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202410836540.7

申请日：2024-06-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 鹫津信荣 ,  高田武晃 ,  田口星人 ,  生沼浩介 ,  真庭瞳

IPC: G01N15/10 ,  G01N15/12 ,  G01N15/13

Abstract: 本发明提供能够改善测定精度的孔隙设备。微细流路设备(400)具备微细流路芯片(410)。微细流路芯片(410)具有在其面内方向上形成的流路(412)。微细流路(412)具有宽度窄的通道部(414)、以及被通道部(414)隔开的第一部分(420)和第二部分(422)。在将通道部(414)的长度设为L并将通道部(414)的宽度设为W时，满足1≤L/W＜2的关系。