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公开(公告)号:CN101313366A
公开(公告)日:2008-11-26
申请号:CN200780000215.1
申请日:2007-04-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G11C29/56 , G11C29/56004
Abstract: 本实施方式的试验装置对被试验存储器进行试验,所述被试验存储器将多个位作为页,具备可按多个页所构成的块来改写数据的块功能,所述试验装置包括:模式产生部(ALPG),其生成页的地址信息,产生试验模式;波形整形部(FC),其对试验模式进行整形,输出基于该试验模式的试验信号;比较部(LC),其将从所述被试验存储器输出的结果信号与期待值进行比较;和不良块存储器(BBM),其预先存储被试验存储器的不良块的信息,在由地址信息确定的页包含在不良块中的情况下输出不良信号,该不良信号用于使地址信息跳到该不良块的下一个试验对象块中含有的页的地址信息。