公开(公告)号：CN101663591A

公开(公告)日：2010-03-03

申请号：CN200880009631.2

申请日：2008-03-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 阿部义弘 ,  石川贵治 ,  岛崎宜昭 ,  松村茂

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R1/07342

Abstract: 探针卡(50A)具备：与半导体晶片(W)上制作的IC器件的输入输出端子电接触的探针(60)；装有探针(60)的安装基底(51)；支承安装基底(51)的支柱(53)；具有经由接合线(52)与探针(60)电连接的布线图案的布线基板(55)；以及用以增强探针卡(50A)的基部构件(56)及加固件(57)。安装基底(51)与布线基板(55)不相接触。

公开(公告)号：CN1110708C

公开(公告)日：2003-06-04

申请号：CN97122830.2

申请日：1997-10-04

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛崎宜昭

IPC: G01R31/28 ,  G06F11/22 ,  H05K3/00

CPC classification number: G01R31/31926 ,  G01R31/31924

Abstract: 在一个IC测试装置中，设置有第一模拟比较器(4a)和第二模拟比较器(4b)，它们用于比较来自受测试的IC的一个I/O插脚和一个输出专用插脚的响应波形；和一个选择器(25)，它用于选择来自两个模拟比较器的输出中的任何一个。通过用选择器在该两个模拟比较器的输出之间进行切换，来用已有I/O公用系统进行对受测试的IC的I/O插脚的测量，以及用已有I/O分离系统进行对该IC的输入专用插脚和输出专用插脚的测量。

公开(公告)号：CN1178909A

公开(公告)日：1998-04-15

申请号：CN97122830.2

申请日：1997-10-04

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛崎宜昭

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31926 ,  G01R31/31924

Abstract: 在一个IC测试装置中,设置有第一模拟比较器(4a)和第二模拟比较器(4b),它们用于比较来自受测试的IC的一个I/O插脚和一个输出专用插脚的响应波形;和一个选择器(25),它用于选择来自两个模拟比较器的输出中的任何一个。通过用选择器在该两个模拟比较器的输出之间进行切换,来用已有I/O公用系统进行对受测试的IC的I/O插脚的测量,以及用已有I/O分离系统进行对该IC的输入专用插脚和输出专用插脚的测量。