公开(公告)号：CN101395487A

公开(公告)日：2009-03-25

申请号：CN200780007522.2

申请日：2007-02-21

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛田健一 ,  增尾芳幸

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2893

Abstract: 在本发明的电子部件测试装置中，使吸附保持IC元件的吸附头(303e)上下移动的气缸(123)，具有缸筒(123a)、活塞(123c)、形成在活塞(123c)下方的第一中空室(123d)、形成在活塞(123c)上方且活塞(123c)的受压面积比第一中空室(123d)大的第二中空室(123f)、一端连接在活塞(123c)上且另一端连接在吸附头(303e)上的杆(123h)；第一中空室(123d)即使在电子部件测试装置的电源被切断时，也可通过确保空气供给的第一供给系统与空气供给装置连接，第二中空室(123f)通过具有开闭阀的第二供给系统与空气供给装置连接。

公开(公告)号：CN101512357A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200680055827.6

申请日：2006-09-15

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛田健一 ,  山下和之

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2893 ,  G01R31/2862

Abstract: 电子元件测试装置设有将包围推进器129及插座50的空间密闭的箱体121、能够将箱体121内存在的流体升温或降温的热交换器122、使流体循环的风扇123以及将流体从热交换器122直接引导到测定位置900近傍的通道126，而且，风扇123将经由通道126引导到测定位置900的流体回收。

公开(公告)号：CN100511625C

公开(公告)日：2009-07-08

申请号：CN200480019450.X

申请日：2004-06-02

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛田健一 ,  海沼正

IPC: H01L21/677 ,  B65G49/07 ,  G01R31/26

CPC classification number: H01L21/67333 ,  G01R31/2893 ,  H05K13/0084 ,  H05K13/021

Abstract: 一种搬运装置，其能用Z轴驱动装置使可以保持和释放专用盘KST的盘移送臂(205)沿Z轴方向移动，把该Z轴驱动装置作成在使盘移送臂(205)向Z轴下方移动的途中能把该移动动作从通常动作切换到转矩限制动作。用这样的盘移送臂(205)不必在存放专用盘KST的各存放器中设置升降机，另外，不必正确地知道专用盘KST的高度或其装载高度，进而，在不需要转矩限制的位置上，可以使盘移送臂(205)的移动速度维持高速。

公开(公告)号：CN1820204A

公开(公告)日：2006-08-16

申请号：CN200480019450.X

申请日：2004-06-02

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 岛田健一 ,  海沼正

IPC: G01R31/26

CPC classification number: H01L21/67333 ,  G01R31/2893 ,  H05K13/0084 ,  H05K13/021

Abstract: 一种搬运装置，其能用Z轴驱动装置使可以保持和释放专用盘KST的盘移送臂(205)沿Z轴方向移动，把该Z轴驱动装置作成在使盘移送臂(205)向Z轴下方移动的途中能把该移动动作从通常动作切换到转矩限制动作。用这样的盘移送臂(205)不必在存放专用盘KST的各存放器中设置升降机，另外，不必正确地知道专用盘KST的高度或其装载高度，进而，在不需要转矩限制的位置上，可以使盘移送臂(205)的移动速度维持高速。