公开(公告)号：CN113030598A

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN202011230806.1

申请日：2020-11-06

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 ,  峯尾浩之

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。

公开(公告)号：CN113030598B

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202011230806.1

申请日：2020-11-06

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 ,  峯尾浩之

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。