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公开(公告)号：CN117434306A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202310844479.6
申请日：2023-07-11
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 市川弘毅 , 须藤训 , 藤部亮
IPC: G01R1/04 , G01R31/26
Abstract: 本发明提供一种能够将高速器件高精度地进行试验的接口装置。接口装置(200)设置在测试头(130)与DUT(1)之间。接口装置(200)具备将多个引脚电子IC(400)进行模块化而成的前端模块(300)。
