公开(公告)号：CN113287003A

公开(公告)日：2021-08-20

申请号：CN201980088744.4

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供一种能够迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏、迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架组件。所述试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线结构解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；以及试样导入结构，形成于基台部，导入用于使细孔性络合物结晶吸藏的试样，敷料器(300)具备：收纳试样保持架的收纳空间以及开口部(302)；密封部(304)，设置在与收纳于收纳空间的试样保持架的接触面；以及防脱部(305)，与收纳于收纳空间的试样保持架卡合，阻止试样保持架从开口部(302)的脱出。

公开(公告)号：CN119534500A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411749527.4

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20025

Abstract: 提供一种迅速地进行基于细孔性络合物结晶（晶体海绵）的单晶X射线结构解析、使得包括关联信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法。单晶X射线结构解析装置具备：试样保持架，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；测角仪，安装并转动试样保持架；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架中所保持的试样照射来自所述X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行试样的结构解析，结构解析部基于使细孔性络合物结晶吸藏试样的工序中的吸藏结果，进行试样的结构解析。

公开(公告)号：CN113454447A

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN201980088789.1

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置，单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部，试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。

公开(公告)号：CN113302482A

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201980088982.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够对细孔性络合物晶体供给试样并使其可靠地吸藏的单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法。吸藏装置(300)使试样吸藏，具备：将所述试样供给到被插入保持细孔性络合物晶体的试样固定器(310)的涂敷器(311)的内部的供给部；控制所述涂敷器(311)的温度的温度调整部(320)；从被插入所述试样固定器(310)的所述涂敷器(311)的内部将所述试样运出的排出部；和控制所述供给部、所述温度调整部(320)和所述排出部的控制部(340)。

公开(公告)号：CN113287002A

公开(公告)日：2021-08-20

申请号：CN201980088735.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20016 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207

Abstract: 能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。

公开(公告)号：CN113167748A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201980076995.0

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线结构解析的单晶X射线结构解析装置、用于此的方法、试样固定器组件。具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器250中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的结构解析的结构解析部，将试样固定器(250)装备于能拆装的敷料器而提供，试样固定器(250)包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，敷料器具备：用于使试样吸藏在试样固定器(250)的细孔性络合物晶体的空间。

公开(公告)号：CN118901001A

公开(公告)日：2024-11-05

申请号：CN202380028093.6

申请日：2023-02-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝 ,  松本崇 ,  长谷川智一

IPC: G01N23/20

Abstract: 提供一种能够高效地取得对于以超过#imgabs0#的分辨率确定溶液中的高分子的结构而言有意义的数据的控制装置、系统、方法以及程序。控制X射线分析装置的控制装置(200)具备：数据转换部(223)，其在各时间将从X射线分析装置取得的试样溶液数据和基准溶液数据转换为分布图；第一指标算出部(232)，其基于所述转换的分布图中的至少一方溶液数据的分布图，算出表示时间轴方向的强度的波动的第一指标；第一指标判定部(234)，其判定所算出的第一指标是否处于规定范围内；以及装置控制部(268)，其在第一指标不处于规定范围内的情况下，使由X射线分析装置进行的测定结束。

公开(公告)号：CN113302481B

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN201980088751.4

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供一种能够通过迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏来迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架、试样保持架组件以及吸藏方法。是在单晶X射线结构解析装置中使用的试样保持架，具备：基台部，安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪；试样保持部，形成于所述基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶；以及试样导入结构，形成于所述基台部，导入用于使所述细孔性络合物结晶吸藏的所述试样。

公开(公告)号：CN113302484B

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN201980089457.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供即使没有专业知识也能够迅速、可靠且容易地进行包括吸藏在晶体海绵的试样的搭载作业在内的基于晶体海绵的构造解析的单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元。试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部、保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于基台部、导入用于吸藏于细孔性络合物晶体的试样，涂敷器具备：收纳空间以及开口部(302)，收纳试样保持架；以及防脱部，选择性地阻止以及解除收纳于收纳空间的试样保持架从开口部(302)脱出，防脱部具有在向测角仪安装了收纳于涂敷器的试样保持架的状态下解除防脱的操作部。

公开(公告)号：CN113302484A

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201980089457.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供即使没有专业知识也能够迅速、可靠且容易地进行包括吸藏在晶体海绵的试样的搭载作业在内的基于晶体海绵的构造解析的单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元。试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部、保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于基台部、导入用于吸藏于细孔性络合物晶体的试样，涂敷器具备：收纳空间以及开口部(302)，收纳试样保持架；以及防脱部，选择性地阻止以及解除收纳于收纳空间的试样保持架从开口部(302)脱出，防脱部具有在向测角仪安装了收纳于涂敷器的试样保持架的状态下解除防脱的操作部。