X射线分析装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101137265B

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN200710142498.5

    申请日:2007-08-27

    CPC classification number: G01N23/207

    Abstract: 提供一种X射线分析装置,通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上,而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式,在选择画面中,从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类,即可根据其测量种类,将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示,执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有:图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置;利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别;和显示光学部件的识别标记(70、72)。

    X射线分析装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101137265A

    公开(公告)日:2008-03-05

    申请号:CN200710142498.5

    申请日:2007-08-27

    CPC classification number: G01N23/207

    Abstract: 提供一种X射线分析装置,通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上,而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式,在选择画面中,从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类,即可根据其测量种类,将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示,执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有:图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置;利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别;和显示光学部件的识别标记(70、72)。

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