公开(公告)号：CN1932493B

公开(公告)日：2012-01-04

申请号：CN200610127560.9

申请日：2006-09-12

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  古泽卫一 ,  河野久征

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01B15/02 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，其可充分正确地对镀合金化熔融锌的钢板的组分沿深度方向不均匀的镀膜的附着量和组分进行分析。该装置包括X射线源(7)，该X射线源(7)按照规定的入射角(φ)，对试样(1)照射1次X射线(6)；检测机构(9)，该检测机构(9)测定按照规定的取出角(α，β)，由试样(1)产生的荧光X射线(8)的强度，在上述入射角(φ)和取出角(α，β)的组合中，以至少1者不同的2个组合，测定荧光X射线(8)的强度，针对由荧光X射线(8)的强度为增加测定对象膜的附着量时的上限值的99％的附着量表示的测定深度，按照上述2个组合的测定深度均大于上述镀膜(3)的附着量的方式，设定各组合的入射角(φ)和取出角(α，β)。

公开(公告)号：CN116507943B

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202180079303.5

申请日：2021-09-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  名越泰彦 ,  古泽卫一

IPC: G01T1/17

Abstract: 在本发明的荧光X射线分析装置中设置的计数时间计算机构(13)将X射线强度的综合精度设为因统计变动以及漏计数引起的计数精度，并且将计数精度设为进行漏计数修正前的强度即修正前强度的精度、与修正后强度相对于该修正前强度的梯度之积，由此针对各测定线(5)，根据已指定的X射线强度的综合精度、所给予的漏计数修正系数以及所给予的修正后强度来计算计数时间。

公开(公告)号：CN116507943A

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN202180079303.5

申请日：2021-09-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  名越泰彦 ,  古泽卫一

IPC: G01T1/17

Abstract: 在本发明的荧光X射线分析装置中设置的计数时间计算机构(13)将X射线强度的综合精度设为因统计变动以及漏计数引起的计数精度，并且将计数精度设为进行漏计数修正前的强度即修正前强度的精度、与修正后强度相对于该修正前强度的梯度之积，由此针对各测定线(5)，根据已指定的X射线强度的综合精度、所给予的漏计数修正系数以及所给予的修正后强度来计算计数时间。